詢價
- 企業類型：制造商
- 新舊程度：全新
- 原產地：江蘇昆山
- 元素分析范圍：硫(S)到鈾（U）
- 分析含量：ppm到99.9%
- 鍍層厚度：一般在50μm以內（每種材料有所不同）
- 分析元素：30種以上元素，五層鍍層
國內電鍍層測厚光譜分析儀是一款功能強大的電鍍層厚度分析儀器，配上專門為其開發的軟件，在鍍層行業中可謂大展身手，檢測電鍍,化學鍍層厚度,如鍍金,鍍鎳,鍍銅,鍍鉻,鎳鋅,鍍銀,鍍鈀...
可測單層,雙層,多層,合金鍍層,Thick800AXRF鍍層測量儀是天瑞集多年的經驗，專門研發用于鍍層行業的一款測量儀器，可全自動軟件操作，可多點測試，由軟件控制儀器的測試點，以及移動平臺。
*超高分辨率、超清攝像頭、超便捷操作、超快檢測速度、超人性化界面
*用戶通過攝像頭及艙內照明系統，可看到樣件測試位置，提升了用戶測試信心
*Thick系列分析儀測試數據可以和上傳網絡，檢測結果易于查看和分享
*有X射線防護鎖，只有在封閉狀態下才發射X射線，安全、可靠的保證客戶使用
*易于使用，一鍵操作，即可獲得鍍層厚度及組成成份的分析結果
*有助于識別鍍層成分的創新型功能
*機身結構小巧結實，外形十分漂亮，適合放置于陳列展室
*按下按鈕的數秒之內，即可得到有關樣件鍍層厚度的結果
*使用PC機和軟件，可以迅速方便地制作樣件的檢驗結果證書
國內電鍍層測厚光譜分析儀Thick800A性能特點
滿足各種不同厚度樣品以及不規則表面樣品的測試需求
φ0.1mm的小孔準直器可以滿足微小測試點的需求
高移動平臺可定位測試點，重復定位小于0.005mm
采用高度定位激光，可自動定位測試高度
定位激光確定定位光斑，確保測試點與光斑對齊
鼠標可控制移動平臺，鼠標點擊的位置就是被測點
高分辨率探頭使分析結果更加jingzhun
良好的射線屏蔽作用
測試口高度敏感性傳感器保護
國內電鍍層測厚光譜分析儀Thick800A技術指標
型號：Thick 800A
元素分析范圍從硫(S)到鈾（U）。
同時可以分析30種以上元素，五層鍍層。
分析含量一般為ppm到99.9% 。
鍍層厚度一般在50μm以內（每種材料有所不同）
任意多個可選擇的分析和識別模型。
相互獨立的基體效應校正模型。
多變量非線性回收程序
度適應范圍為15℃至30℃。
電源: 交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩壓電源。
外觀尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm
樣品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm
重量：90kg
Thick800A工作原理
物質經X射線或粒子射線照射后，由于吸收多余的能量而變成不穩定的狀態。從不穩定狀態要回到穩定狀態，此物質必需將多余的能量釋放出來，而此時是以 熒光或光的形態被釋放出來。x射線鍍層測量儀或成分分析儀的原理就是測量這被釋放出來的熒光的能量及強度，來進行定性和定量分析。
天瑞儀器有限公司生產的能量色散X熒光光譜儀系列在電鍍檢測行業中，針對ROHS、膜厚、全元素分析等等需求應用，
具有以下特點：
快速：1分鐘就可以測定樣品鍍層的厚度，并達到測量準確度要求。
方便：X熒光光譜儀部分機型采用進口國際上優質的電制冷半導體探測器，能量分辨率更優于135eV，測試準確度更高。并且不用液氮制冷，不用定期補充液氮，操作使用更加方便，并且運行成本比同類的其他產品更低。
無損：測試前后，樣品無任何形式的變化。
直觀：實時譜圖，可直觀顯示元素含量。
測試范圍廣：X熒光光譜儀，是一種物理分析方法，其分析與樣品的化學結合狀態無關。對在化學性質上屬同一族的元素也能進行分析,抽真空可以測試從Na到U。
可靠性高：由于測試過程無人為因素干擾，儀器自身分析準確度、重復性與穩定性很高。所以，其測量的可靠性更高。
滿足不同需求：測試軟件為WINDOWS操作系統軟件，操作方便、功能強大，軟件可監控儀器狀態，設定儀器參數，并就有多種高質量的分析方法，工作曲線制作方法靈活多樣，方便滿足不同客戶不同樣品的測試需要。
性價比高：相比化學分析類儀器，X熒光光譜儀在總體使用成本上有優勢的，可以讓更多的企業和廠家接受。
簡易：對人員技術要求較低，操作簡單方便,并且維護簡單方便。
