詢價
- 探針間距：1.59mm（探針直徑0.8 mm）或1.00 mm（探針直徑0.5 mm）
- 電源交流：220V±10%，50HZ
- 外型尺寸：210×100×230（寬×高×深，單位mm）
- 功耗：≤20W
- 重量：約3kg
導電型號測試儀是嚴格按照標準SEMI MF42-1105及標準GB/T1550中的全類型整流法設計。
本儀器將三根測試探針做成測量探頭，意兩根針之間絕緣度大于500MΩ，每根探針均有獨立伸縮和加壓機構，因此樣品上無需制備電極。
探針與半導體材料上產生的整流電勢差經低噪聲、低飄移集成運算放大器放大后，用液晶件直接指示型號。
技術參數
（1）標準確認：可準確判別硅材料導電型號的電阻率范圍：0.05～1000Ω·cm
（2）本儀器實際可測量硅材料電阻率范圍：10-2～104 Ω·cm
（3）可測線度大于5mm的意形狀的硅塊和硅片，樣品長度、直徑不受限制
（4）顯示方式：由顯示N和P字樣的液晶器件直觀指示半導體材料型號
（5）探針采用耐磨的碳化鎢硬質合金，直徑0.8mm，每根針有獨立的加壓機構，壓力可在50～500克（單針）范圍內根據用戶需要進行調整
（6）探針間距：1.59mm（探針直徑0.8 mm）或1.00 mm（探針直徑0.5 mm）
（7）外型尺寸：210×100×230（寬×高×深，單位mm）
（8）重量：約3kg
（9）電源：交流 220V±10%，50HZ。功耗≤20W
導電型號測試儀是嚴格按照標準SEMI MF42-1105及標準GB/T1550中的全類型整流法設計。
本儀器將三根測試探針做成測量探頭，意兩根針之間絕緣度大于500MΩ，每根探針均有獨立伸縮和加壓機構，因此樣品上無需制備電極。
探針與半導體材料上產生的整流電勢差經低噪聲、低飄移集成運算放大器放大后，用液晶件直接指示型號。
技術參數
（1）標準確認：可準確判別硅材料導電型號的電阻率范圍：0.05～1000Ω·cm
（2）本儀器實際可測量硅材料電阻率范圍：10-2～104 Ω·cm
（3）可測線度大于5mm的意形狀的硅塊和硅片，樣品長度、直徑不受限制
（4）顯示方式：由顯示N和P字樣的液晶器件直觀指示半導體材料型號
（5）探針采用耐磨的碳化鎢硬質合金，直徑0.8mm，每根針有獨立的加壓機構，壓力可在50～500克（單針）范圍內根據用戶需要進行調整
（6）探針間距：1.59mm（探針直徑0.8 mm）或1.00 mm（探針直徑0.5 mm）
（7）外型尺寸：210×100×230（寬×高×深，單位mm）
（8）重量：約3kg
（9）電源：交流 220V±10%，50HZ。功耗≤20W導電型號測試儀 STY-2R 庫號M399715 導電型號測試儀 STY-2R 庫號M399715 導電型號測試儀 STY-2R 庫號M399715 導電型號測試儀 STY-2R 庫號M399715
