HTIM-1001A高溫電阻測試儀
關鍵詞：高溫電阻，高溫電阻率，電導率
HTIM-1000A高溫電阻測試儀采用四端測量方法在高溫環境下對導電及半導電材料的電阻進行評估，適用于生產企業、高等院校、科研部門，是檢驗和分析導體材料和半導體材料在高溫、真空及氣氛條件下測量的一種重要的工具。本儀器配置各類測量裝置可以測試不同材料。液晶顯示，無需人工計算，并帶有溫度補償功能。采用芯片控 AD制，恒流輸出，結構合理、質量輕便，配備 英寸觸摸屏， 10軟件可保存和打印數據，自動生成報表；本儀器可顯示電阻、溫度、單位換算、溫度系數、電流、電壓配置不同的測試治具可以滿足不同材料的測試要求。測試治具可以根據產品及測試項目要求選購。
高溫加熱大都為管式爐或馬弗爐，原理為加熱絲或硅碳棒對爐體加熱，加熱與降溫速度慢，效率低下，這種方式也易存在感應電流，無法實現溫度的測量，也加熱區域也存在不均勻的現象，本設備在高速加熱高速冷卻時，具有良好的溫度分布。 可實現寬域均熱區，高速加熱、高速冷卻 ，用石英管保護加熱式樣，無氣氛污染。可在高真空，高出純度氣體中加熱 。大大提高J確度,也可應用于產品檢測以及新材料電學研究等用途.
HTIM-1000A高溫電阻測試儀搭配系統開發的軟件，具備彈性的自定義功能，可進行電壓、電流、溫度、時間等設置，符合導體、半導體材料與其它新材料測試多樣化的需求。
高溫低電阻測試儀可實現高溫下的勻速、階梯、降溫下的全溫度范圍的測試。
高溫低電阻測試儀可實現小于±0 .25 ℃溫 度測量誤差（限反射爐）。
二、HTIM-1000A高溫電阻測試儀優勢：
1、整體為桌面型設計，采用紅外燈加熱，無保溫爐膛結構，滿足實驗室無灰塵排放的要求。
2、內置工控機、觸摸屏，可以利用工控機設定加熱曲線，并實現和其他測試設備的集成控制。
3、定點控溫模式下，可以將樣品 1 0s內加熱到 1000攝氏度。
4、控溫加熱下，可以5度/s 速率下線性加熱到1000 攝氏度。
5、在1000度下可以連續工作時間不低于1 小時。
6、采用鉑銠熱電偶直接測定樣品附近溫度。
7、樣品可以工作在大氣、真空、氣氛環境下加熱。
8、配備真空泵，水冷設備，配備超溫、缺水、過流等報警保護裝置。
9、溫度均勻區：60 m m *1 0 0m m。
10、的高溫低電阻測試系統軟件將高溫測試平臺、高溫測試夾具與keithley（吉時利）系列、2400、 2450、 2600 系列源表測量設備無縫連接。
三、高溫低電阻測試儀硬件配置：
█ 集成Intel@Celeron 1037U 1.8GHZ 雙核處理器
█ 集成打機印接口，可擴充8 個 USB 接口
█ 支持16G 內存， 60G固態硬盤，讓系統運行 流暢
軟件功能：
測試系統的軟件平臺采用labview 系統開發，符合絕緣材料的各項測試需求，具備的穩定性，并具備斷電資料的保存功能，圖像資料也可保存恢復。兼容XP 、win7 、 win10系統。
█ 多語介面：支持中文/英文 兩種語言界面；
█ 即時監控：系統測試狀態即時瀏覽，無須等待；
█ 圖例管理：通過軟件中的狀態圖示，一目了然，立即對狀態說明，了解測試狀態；
█ 使用權限：可設定使用者的權限，方便管理；
█ 故障狀態：軟件具有設備的故障報警功能。
產品特點：
1、高速加熱與冷卻方式
高能量的紅外燈和鍍金反射方式允許高速加熱到高溫。同時爐體可配置水冷系統，增設氣體冷卻裝置，可實現快速冷卻。
2、溫度控制
過紅外鍍金聚焦爐和溫度控制器的組合使用，可以控制樣品的溫度(遠比普通加溫方式)。此外，冷卻速度和保持在任何溫度下可提供。
3、不同環境下的加熱與冷卻
加熱/冷卻可用真空、氣氛環境、低溫（高純度惰性氣體,靜態或流動），操作簡單，使用石英玻璃制成。紅外線可傳送到加熱/冷卻室。
四、產品應用：
█ 多晶硅材料
█ 石墨功能材料
█ 導電功能薄膜材料
█ 導電玻璃（ito ）材料
█ 石墨烯材料
█ 半導體材料
█ 鍺類功能材料
█ 柔性透明 導電薄膜
█ 其它導電材料等
功能特點：
█ 多功能真空加熱爐，一體爐膛設計、可實現、高溫、真 空、氣氛環境下進行測試
█ 采用鉑材料作為導線、以減少信號衰減、提高測試精度；
█ 可以測量半導體薄膜材、薄片材料的電阻、電阻率；
█ 可實現常溫、變溫、恒溫條件的I-V、R-T等測量功能;
█ 溫度傳感器、PID自動溫度控制，使測量溫度精準；
█ 儀器可自動計算試樣的電阻率pv;
█ 10寸觸摸屏設計，一體化設計機械結構，穩定、可靠；
█ 程控電子升壓技術，紋波低、TVS防護系統，保證儀器性；
█ 99氧化鋁陶瓷絕緣、碳化鎢探針；
█自動分析控制分析軟件。
技術參數：
1、溫度范圍：室溫-1200℃, （反射爐加溫 ）配水冷機；
2、控溫精度：（溫控Z高） ±0 5℃ ；
3、測量精度： ± 0.25℃；
4、升溫斜率：20℃/min （可設定）；
5、降溫斜率： 1-200℃/min ( 自調整）；
6、測量精度：0.5%；
7、樣品規格：直徑： 20mm 以內；厚度： 5mm以內；
8、電極材料：鉑金;
9、測量方式：2 線- 4線測量方式；
10、測量范圍： 0.1uΩ- 100MΩ
11、供 電：220V±10%，50Hz；
12、工作環境：0℃ - 55℃；
13、存儲條件:- 40℃-70℃；
14、尺 寸：850mmX750mmX450mm；
15、重 量：30 kg
主要參數：
產品型號 | 溫度范圍 | 設備功能 |
HTIM-1001A | 室溫-600C° | 單組試樣；片狀樣品；三環電極法；薄膜或薄片狀樣品；真空、氣氛環境 |
HTIM-1001A | 室溫-800C° | 單組試樣；片狀樣品；三環電極法；薄膜或薄片狀樣品；真空、氣氛環境 |
HTIM-1001A | 室溫-1200C° | 單組試樣；片狀樣品；三環電極法；薄膜或薄片狀樣品；真空、氣氛環境 |
HTIM-1001A | 室溫-1450C° | 單組試樣；片狀樣品；三環電極法；薄膜或薄片狀樣品；真空、氣氛環境 |
