JK-TPS-2000型熱常數分析儀
JK-TPS-2000型熱常數分析儀該儀器采用先進的瞬變平面熱源法及縱向熱流技術，具有方便、快捷特點，可用來測量各種不同類型材料的熱導率、熱擴散率以及熱熔，適用的熱導系數范圍0.01-200W/MK之間，適用樣品類型：固體、粉末、涂層、液體、各向異性材料等多種不同形式材料。參考標準：ISO22007-2。
主要特點：
1. 直接測量瞬態熱傳播，測試時間在分秒之間。
2. 不會和靜態法一樣受到接觸熱阻的影響
3. 無須特別的樣品制備，只需相對平整的樣品表面
4. 可用于固體、粉末、液體、各向異性材料等熱物性參數的測定。
技術要求及參數：
（1）一次測試可同時得到被測樣品導熱系數、熱擴散系數和比熱容（體積）三個數據；
（2）內置精度不低于6位半的Keithley高精度萬用表，可測最小電壓至0.1uV，最小直流電流至10nA；開關觸動時間小于3ms；并配置最小測量精度為± 438nA的源表；數字化電壓取樣率為不低于90000/秒；設備安裝時需要檢查上述硬件，保證高精度原始數據的獲取；
（3）導熱系數測定范圍≥0.005~1800 W/(m?K)；
（4）熱擴散率≥0.01~1200mm2/S；
（5）比熱測量范圍≥0.01~5 MJ/(m3K)；
（6）*導熱系數測量精度≤± 3 %；
（7）熱擴散率測量精度≤± 5 %；
（8）比熱測量精度≤± 7 %；
（9）導熱系數測量重復性≤1%
（10）具有結構探頭功能，能夠一次測試得到2000個數據點組成的瞬態曲線，同時給出沿塊體材料厚度方向的導熱系數梯度變化曲線；
（11）具有 1 維測試功能，能夠測得直徑≤7 mm，高度≤50 mm 黃銅柱的導熱系數；
（12）測試環境：RT~400℃，控溫精度不低于±0.1℃，溫度波動度不大于±1℃/h，溫度均勻性不大于±2℃；
（13）中溫測試環境的內部空間不小于40L，且可以由主機自帶軟件自動控制升降溫和測試過程。
（14）有效瞬態測試時間范圍≥12560S；有效瞬態功率≤10nW,且可在軟件中檢查；
（15）能夠原位測試，不需制樣或制樣工作很少；
（16）最小塊體樣品尺寸：厚度2 mm, 直徑 10 mm；同時能夠對最薄75um的單層石墨薄膜、鋁塑膜等高導薄膜材料進行準確測試；
（17）工作電壓：220 V, 50 Hz；
（18）可測樣品類型：固體、粉末、液體、膏狀物和復合材料等；
（19）探頭：雙螺旋圓形黃色聚酰亞胺覆膜探頭，主要元件為光刻鎳絲，且常溫探頭與導線應是一體的，不接受黑色覆膜探頭或導線與探頭分開的設計，以免影響探頭使用精度和壽命；為應對1mm以下高分子材料測試，應提供半徑≤0.9mm的探頭；同時應能提供19*16mm條帶探頭，便于測試樣品內沿某一方向的導熱系數；
