核心功能與技術參數 ?測量與輸出能力?: ?雙通道設計?:每條通道獨立工作,支持同步輸出與測量電壓/電流。?? 1?? 2 ?寬量程覆蓋?:電壓范圍±100nV至40V,電流范圍±100fA至10A(直流)/10A(脈沖),?大輸出功率200W(100W/通道)?。?? 3?? 4 ?高精度分辨率?:6?位半測量精度(電流分辨率0.1fA,電壓分辨率100nV)。?? 1?? 2 ?核心技術特性?: ?TSP?技術?:內置測試腳本處理器,通信速度較傳統方案提升200%,支持無主機自動化測試。?? 1?? 2 ?TSP-Link?擴展?:通過菊花鏈連接最多64通道,實現多設備同步(延遲<500ns),適用于大規模并行測試。?? 2?? 3 ?兼容性?:支持USB 2.0/LXI接口,可仿真2400系列源表指令,便于舊系統升級。?? 1?? 2 應用場景與優勢 ?典型應用領域?: ?半導體器件測試?:如二極管、FET、LED的I-V特性分析。?? 2?? 5 ?材料與組件驗證?:太陽能電池、高亮度LED、傳感器的大電流脈沖測試(10A脈沖)。?? 1?? 2 ?自動化產線?:通過TSP-Link構建多通道系統,提升晶圓級可靠性測試效率。?? 2?? 6 ?核心優勢?: ?集成化設計?:單設備替代電源、萬用表等儀器,節省空間。?? 2?? 4 ?快速響應?:脈沖生成速度<100μs,穩定時間縮短70%,適合高速生產環境








