光譜橢偏儀(PH-SE型)針對太陽能電池應用，可測量多晶硅/單晶硅絨面表面單層（二層或多層）減反射膜、和玻璃/基底上的薄膜太陽能電池。多層膜和非均勻薄膜的分析也出色。 針對太陽能電池應用的光譜橢偏儀基于的橢偏光路設計，高靈敏度探測單元和光譜橢偏儀分析軟件，可測量各種太陽能電池的薄膜厚度和光學常數，光學帶寬等。
光譜橢偏儀 - 產品特點
■ 連續波長的光源為用戶提供了更大的應用空間
■ 更簡便快捷的樣品準直方法
■ 軟件具備豐富的材料數據庫
■ 允許用戶自定義色散模型，更方便用戶研究新材料的光學性質
■ 全波長多角度同時數據擬合，EMA模型用戶多成分化合物和表面粗糙度分析
■ 具有實驗數據和模擬數據三維繪圖功能
■ 光譜范圍寬達250 - 1100nm (可擴展至250-1700nm)
■ 大的光譜橢偏測量與分析軟件
光譜橢偏儀 - 產品特點
■ 連續波長的光源為用戶提供了更大的應用空間
■ 更簡便快捷的樣品準直方法
■ 軟件具備豐富的材料數據庫
■ 允許用戶自定義色散模型，更方便用戶研究新材料的光學性質
■ 全波長多角度同時數據擬合，EMA模型用戶多成分化合物和表面粗糙度分析
■ 具有實驗數據和模擬數據三維繪圖功能
■ 光譜范圍寬達250 - 1100nm (可擴展至250-1700nm)
■ 大的光譜橢偏測量與分析軟件
