數字式CMI150涂層測厚儀的詳細信息

/*110922_中文版_新中間頁_中間_300*250*/ var cpro_id = 'u620430'; 數字式CMI150涂層測厚儀 特點：自動識別底材，無需校準，操作方便。雙功能技術的測厚儀，完成磁感應和電渦流測量自動轉換CMI150測厚儀應用雙功能測量技術，能夠自動識別磁性或非磁性底材，然后采用相應的測試方法，適用于各種測量環境。CMI150測厚儀可測量非磁性底材上的非導電性涂層和磁性底材上的非磁性涂層的厚度。涂料涂裝、汽車、石化管道、造船、電器、防腐等行業中的表面處理。· 磁性底材上的非磁性涂層厚度。 鋼鐵上的非磁性涂鍍層，如油漆、塑料、搪瓷、鉻、鋅等。· 非磁性底材上的非磁性涂層厚度。 銅、鋁、奧氏體不銹鋼上的所有絕緣層，如陽極氧化膜、油漆、涂料等。測厚儀電渦流測試方法應用包括鋁或銅底材上的特富龍、琺瑯、瓷釉、環氧樹脂、陽極氧化層或涂料的厚度測量。測厚儀磁感應測試方法應用的涂鍍層包括鋅、鎘、涂料或粉末噴涂。· 高、穩定性好· 鐵基和非鐵基底材自動識別、切換· 無需校準、一鍵操作· 一體化探頭、小巧實用、測量快速· 自動開、關機以延長電池使用時間技術參數：執行標準(磁感應) ASTM B499及B530,DIN 50981,ISO 2178,BS 5411 執行標準(電渦流)  ASTM B244及B529,DIN 50984,ISO 2360,BS 5411第三部分 測量范圍(磁感應)  0-80mils(0-2.04mm) 測量范圍(電渦流)  0-40mils(0-1.02mm) 分辨率  10mils(254um)以下0.01mils(0.1um) 底材厚度  磁性和非磁性小底材厚度12mils(305um) 外型尺寸 9.53X5.28X2.52cm 重量  71g 單位  公、英制自動轉換 電池  2節7號電池 (涂層測厚儀,鍍層測厚儀,漆膜測厚儀,薄膜測厚儀,測厚儀,渦流測厚儀,油漆測厚儀,磁感應涂層測厚儀)高品質數字式CMI150涂層測厚儀  詳情可咨詢牛津儀器總代理：============================================================深圳市方源儀器有限公司Shenzhen Fangyuan Instrument Co., Ltd.聯系電話：  86372601  86372660  86372661傳真電話：移動電話：聯系地址：深圳市南山區登良路62號南園綜合樓B508-509============================================================常規涂鍍層測厚儀的原理：　　對材料表面保護、裝飾形成的覆蓋層，如涂層、鍍層、敷層、貼層、化學生成膜等，在有關國家和國際標準中稱為覆層（coating）。　　覆層厚度測量已成為加工工業、表面工程質量檢測的重要一環，是產品達到優等質量標準的必備手段。為使產品國際化，我國出口商品和涉外項目中，對覆層厚度有了明確的要求。　　覆層厚度的測量方法主要有：楔切法，光截法，電解法，厚度差測量法，稱重法，X射線熒光法，β射線反向散射法，電容法、磁性測量法及渦流測量法等。這些方法中前五種是有損檢測，測量手段繁瑣，速度慢，多適用于抽樣檢驗。　　X射線和β射線法是無接觸無損測量，但裝置復雜昂貴，測量范圍較小。因有放射源，使用者必須遵守射線防護規范。X射線法可測極薄鍍層、雙鍍層、合金鍍層。β射線法適合鍍層和底材原子序號大于3的鍍層測量。電容法僅在薄導電體的絕緣覆層測厚時采用。　　隨著技術的日益進步，特別是近年來引入微機技術后，采用磁性法和渦流法的測厚儀向微型、智能、多功能、高、實用化的方向進了一步。測量的分辨率已達0.1微米，可達到1%，有了大幅度的提高。它適用范圍廣，量程寬、操作簡便且價廉，是工業和科研使用廣泛的測厚儀器。　　采用無損方法既不破壞覆層也不破壞基材，檢測速度快，能使大量的檢測工作經濟地進行。　測量原理與儀器 　　一． 磁吸力測量原理及測厚儀　　磁鐵（測頭）與導磁鋼材之間的吸力大小與處于這兩者之間的距離成一定比例關系，這個距離就是覆層的厚度。利用這一原理制成測厚儀，只要覆層與基材的導磁率之差足夠大，就可進行測量。鑒于大多數工業品采用結構鋼和熱軋冷軋鋼板沖壓成型，所以磁性測厚儀應用廣。測厚儀基本結構由磁鋼，接力簧，標尺及自停機構組成。磁鋼與被測物吸合后，將測量簧在其后逐漸拉長，拉力逐漸增大。當拉力剛好大于吸力，磁鋼脫離的一瞬間記錄下拉力的大小即可獲得覆層厚度。新型的產品可以自動完成這一記錄過程。不同的型號有不同的量程與適用場合。　　這種儀器的特點是操作簡便、堅固耐用、不用電源，測量前無須校準，價格也較低，很適合車間做現場質量控制。　　二． 磁感應測量原理 　　采用磁感應原理時，利用從測頭經過非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小，來測定覆層厚度。也可以測定與之對應的磁阻的大小，來表示其覆層厚度。