| 型號 | ROHS |
儀器介紹
該X熒光光譜儀，它不同于其它的測厚儀的下照式和封閉樣品腔的設計，而是采用上照式，通過三維的移動和激光定位，實現對尺寸范圍較大部件進行鍍層厚度和含量的點測量
應用領域：黃金、鉑、銀等貴金屬和各種飾的含量檢測；金屬鍍層的厚度測量、電鍍液和鍍層含量的測定；貴金屬加工和飾加工行業；銀行、飾銷售和檢測機構；電鍍行業。
主要特點
該X熒光光譜儀主要針對大件部件的鍍層厚度和含量的、快速測定
1、主要針對大部件的鍍層厚度和含量的、快速測定；
2、同時可分析多達5層以上鍍層；
3、相互的基體效應校正模型，厚度分析方法；
4、采用上照式、開放式樣品腔；
5、采用上下活動的玻璃屏蔽罩，避免了測試的X射線外泄；
6、三維的樣品移動平臺和雙激光定位；
7、現代化的外觀、結構和色彩；
技術參數
儀器技術指標：
元素分析范圍從鈉（Na）到鈾（U）。
可同時分析多24個元素。
分析檢出限可達1ppm。
分析含量一般為1ppm到99.9％。
任意多個可選擇的分析和識別模型。
相互的基體效應校正模型。
多變量非線性回收程序。
多次測量重復性可達0.1％。
長期工作穩定性為0.1％。
溫度適應范圍為15℃至30℃。
電源:交流220V&plun;5V,建議配置交流凈化穩壓電源。
配置：
開放式樣品腔。
精密二維移動樣品平臺，探測器和X光管上下可動，實現三維移動。
雙激光定位裝置。
鉛玻璃屏蔽罩。
Si-Pin探測器。
信號檢測電子電路。
高低壓電源。
X光管。
高度傳感器
保護傳感器
計算機及噴墨打印機
售后服務及價格：1、儀器一年保修。
2、產品維修，提供上門維修和排除故障服務。
3、產品軟件升級。
4、上門安裝，并對用戶操作人
員進行培訓。 5、產品價格是含稅價（17%增值
稅），并包運費。
