| 品牌 | BudgetSensors | 型號 | ContE-G-10 |
| 測量范圍 | 200nm 以上的細節的更平衡成像 | 測量 | 25 nm |
| 外形尺寸 | 3.4×1.6×0.3（mm） | 用途 | 用于AFM測試，導電接觸模式 |
BudgetSensors ContE-G導電AFM探針
產品描述
BudgetSensors®的AFM探針用于您AFM測量，能測量的正確結果。
探針是用單晶硅做的，能適用于大部分的商業AFM（VEECO, DI Nanoscope, Asylum Research, Agilent/Molecular Imaging, PSI, JEOL,…）。
從測量結果的度、勻稱性、密度方面來說，BudgetSensors®的探針測量結果過別的商業SPM硅探針的測量結果。
•接觸式、電力式
-掃描電容顯微鏡SCM
-靜電力顯微鏡EFM
-表面電位顯微鏡KFM
-掃描探針平版印刷
•旋轉的單晶硅探針，對稱針尖
支架尺寸: 3.4×1.6×0.3 mm（在這種產品支架背上有調節凹槽）。
•涂層:臂雙面可以涂上5nm厚的導電鉻涂層和25nm厚的電導鉑涂層。
這種涂層可以增強懸臂的激光束反射性。
•這種對稱的針尖安裝在探針時產生“掃描傾斜角”效果,
這能200nm以上的細節的更平衡成像。
應用范圍：
導電力AFM等應用
技數據
Technical Data | Value | Range |
Force Constant | 0.2N/m | 0.04 - 0.4 N/m |
Resonance Frequency | 13 kHz | +/- 4 kHz |
Length | 450µm | +/- 10 µm |
Width(rectangular part) | 50 µm | +/- 5 µm |
Thickness | 2 µm | +/- 1 µm |
Shape / Cross-section | - | |
Number of Cantilevers | 1 | |
Tip Offset | 15 µm | +/- 5 µm |
Tip Style | - | |
Tip Height | 17 µm | +/- 2 µm |
Tip Radius | < 25 nm | |
Half Cone Angle | 20º- 25ºalong cantilever axis 25º- 30ºfrom side 10ºat the apex | |
Material | Silicon | |
Chip Size (industry standard) | 3.4×1.6×0.3 mm | |
Coating (optional) | Conductive Cr/Pt on both sides | |
Contact Resistance | 300 Ohms on platinum thin film surface | |
訂購型號
數量 | 涂層 | 懸臂參數數據 | 懸臂數 | 訂購編號 | 價格 |
10根 | 雙面的導電鉻、鉑涂層，調節凹槽 | 無 | 1 | ContE-G -10 | 詢價 |
50根 | 雙面的導電鉻、鉑涂層，調節凹槽 | 無 | 1 | ContE-G -50 | 詢價 |
