CW2010—Z軸測量顯微鏡CW2010—Z軸測量顯微鏡以影像法為測量原理, 采用光學焦點位置檢測方式進行非接觸高低差測量。不僅可以對準目標影像, 還能觀察測量點的表面狀態,對高度,深度,高低差等進行測量。本儀器的各種鏡筒還具有明暗場，微分干涉，偏光的觀察功能。所以對極細微的間隙高低差，夾雜物、微米以下的突起、細微劃痕進行觀察。一、特點: 以影像法為測量原理, 采用光學焦點位置檢測方式進行非接觸高低差測量。不僅可以對準目標影像, 還能觀察測量點的表面狀態,對高度,深度,高低差等進行測量。本儀器的各種鏡筒還具有明暗場，微分干涉，偏光的觀察功能。所以對極細微的間隙高低差，夾雜物、微米以下的突起、細微劃痕進行觀察。二、?CW2010—Z軸測量顯微用途：適用于硅片、IC、LCD、TFT、PCB、MEMS激光加工、晶片測試、半導體材料、線束加工蝕刻、液晶電池蓋、導線框架等產品的檢查觀察.也適用于經過磨拋、化學處理的工件表面的金相組織結構，幾何形狀進行顯微觀測。并且有三維的計量功能，其解析率達0.0005mm。因此是精密零件，集成電路，半導體芯片，光伏電池，光學材料等行業的必用儀器。三、?CW2010—Z軸測量顯微鏡主要規格??? 2.1 ?鏡筒：鉸鏈式三目頭部 ??30°傾斜 ??270°旋轉??? 2.2 ?高眼點平場目鏡: WF10X/22?? ?2.3 ?超長物距平場物鏡：PLL5X/0.12? WD 26.1， PLL10X/0.25 WD 20.2， PLL20X/0.40? WD 8.80， PLL50X/0.7? WD 3.68。?? ?2.4 ?右傾式內定位5孔轉換器??? 2.5 ?落射式照明系統： 鹵素燈12V30W， 內置孔徑光闌，五孔轉盤濾色裝置（黃、綠、藍、磨砂）推拉式檢偏器和起偏器。??? 2.6 ?調焦結構：粗微動同軸調焦, 帶鎖緊和限位裝置? 粗動升降范圍30mm? 微動格值? 0.001mm*100格? 數顯解析值 0.0005mm。?? ?2.7 ?光源：鹵素燈 亮度可調? 6V30W（BD：12V50W）?? ?2.8 ?普通透射照明：可選? ??2.9 ?Z軸升降范圍：手輪轉動130mm? 允許工件 130mm????X軸移動范圍? 200mm? 解析率：0.001mm? 可解鎖手動快進????Y 軸移動范圍? 100mm ?解析率：0.001mm? 可解鎖手動快進?? ?測量（3+L/100）mm ?(L: 被測長度)?? ?落射光測量誤差≤0.08%??? 3.0工作臺尺寸: 360mm*250mm ??玻璃板尺寸: 225mm *175mm?? 工作臺承重: 30kg???? ?3.1 儀器外型尺寸：380mm*550mm*830mm???? ?3.2 凈重：100kg? 毛重：120kg?更多顯微鏡登陸https://www.xacewei.com，西安測維光電技術有限公司（顯微鏡制造商）以上是Z軸測量顯微鏡的詳細信息，如果您對Z軸測量顯微鏡的價格、廠家、型號、圖片有什么疑問，請聯系我們獲取Z軸測量顯微鏡的新信息。