XPW 納米力學測試系統-XPW

為了提供一種快速、可靠的在未切割的晶圓片上獲得力學數據的方法，我們的工程師開發出一種強大的解決方案— NANO Indenter XPW。配備一個可以支持試樣直徑達300毫米的樣品臺，該產品基本上可以滿足所有的工業需求。

基于業已成熟的 NANO Indenter 技術，XPW 對表面的表征可以達到幾個納米的量級。該尺度上的性質，例如硬度與彈性模量對半導體裝置的產量、效能及壽命有著顯著的影響。作為一個獨特的系統，產品具有實用設計 、易于使用、簡化測試的軟件接口、以及快速、簡潔的樣品裝載特點。采用23位電子儀器及超常的數據采集速率，NANO Indenter XPW為您提供在儀器化納米壓痕系統上可獲得的準確的數據。

類似于其它納米壓痕系統，XPW 使用金剛石壓頭產生一個可控的壓痕。隨著連續監測壓頭的位移數值，設備產品可提供測試樣品的硬度、楊氏模量、斷裂韌性以及其它力學性質和數據計算等。
 

Nano Indenter XPW 能夠配置可選真空樣品固定系統，這里顯示的是一個6英寸的晶圓片樣品臺。
 

NANO Indenter XPW 采用軟件控制，使用簡單。操作人員僅僅需要決定在什么位置壓痕，以及進行什么樣的實驗。XPW 就可以自動進行實驗測試，確保每個測試是一致的、合理的并且是準確的。

系統部件
 

• NANO Indenter XPW 測試系統包括以下元件：
   

• 壓痕組元
   

• 帶鼠標控制的機械化樣品操作臺
   

• 振動隔離臺及環境隔離
   

• 光學成像系統
   

• 帶幀取樣軟件的像機
   

• 預置金剛石壓頭(Berkovich)
   

• 軟件控制、自動定位
   

• 包括計算機、監視器、鍵盤以及全自動的數據采集與控制系統(基于 Windows 系統)
   

• 全套 TestWorks 操作與數據分析軟件
   

• 彩色噴墨打印機
   

特色與優勢
 

• 快速、準確的納米力學表征
   

• 快速、準確生成實時的測試結果
   

• 無需切割，節省時間與成本
   

• 全自動測試－儀器運行無需照管
   

• 自動以 Microsoft Word 和 Microsoft Excel 格式測試結果