美國PSS Nicomp 380DLS 激光粒度儀

美國PSS Nicomp 380DLS 激光粒度儀的詳細描述：
    主要技術參數：粒徑范圍：1nm-5um測量  無需校正激光光源：15mw、635nm大功率固體紅色發光二極管樣品類型模式：固體微粒模式、空心囊泡模式分析方法：經典的GAUSSIAN分布、技術的NICOMP多峰分布高分辨率的NICOMP多組分的樣品分析對濃度并不十分敏感溫控范圍：5-7攝氏度檢測角度：標準90度或者多角度（可選配）通道數：4096條通道，32位數字輔助自相關器電位場強范圍：極大的場強范圍從0.1-250傳導率范圍：1E-5 0.2s/mPH值范圍：2-12尺寸：長60 cm寬40 cm高20 cm機臺重量：25公斤 原理：動態光散射量程范圍：1nm~5000nm光源：波長為635nm的大功率紅色固體激光二極管特點：動態測量，粒徑范圍廣；無需校正；重現性佳；高分辨率GAUSSIANN、ICOMP兩種模式相結合的分析方法；操作簡便，兼容WINDOWS操作系統的軟件。應用范圍：制藥業（注射乳劑、脂質體、靜脈注射（USP），粉末）生物技術（蛋白質、大分子、疫苗、病毒），特殊化學制品（聚合物、顏料、墨水、調色劑、油墨、陶瓷、油漆），其他如食品，飲用乳劑，化妝品等。  Nicomp 380 Series 納米粒度分析儀選配件Nicomp 380系列采用先進的模塊化設計，在實現粒徑分析功能的同時，通過添加其他附加功能模塊，用戶可根據需要選擇不同的配置。以下是可供選擇的附件： 電位模塊：ZETA電位是確定膠體系統穩定性的重要參數，決定粒子之間的靜電斥力大小，從而影響粒子間的聚集作用及分散系的穩定。該模塊使用電泳光散射（ELS）技術，通過測量帶點粒子在外加電場中得移動速度，即電泳遷移率推算出ZETA電位，實現粒子的粒徑與ZETA電位測定的同機操作。  自動稀釋系統：將初始濃度較高的樣本自動稀釋至sensor可檢測的濃度，可稀釋初始固含量為50%的原始樣品。本附件受保護，其可免除人工稀釋樣品帶來的干擾和誤差，次技術被用于批量進樣和在線檢測的過程中。 多角度檢測系統：提供多角度檢測。使用高電機和針孔光纖技術可對散射光的接收角度進行調整，可為微粒粒徑分布提供高分辨率的多角度檢測。對高濃度樣品（＜40%）以及大粒子多分散系的粒徑提供了15-175度之間不同角度上的散射光的采集和檢測。 自動進樣器，：批量自動進樣器能實現多76個連續樣本的分析而無需操作人員的干預。因此它是一個非常好得質量控制工具，能增大樣本的處理量，從而節省時間。 大功率激光二極管：使用一系列大功率激光二極管來滿足更多更苛刻的需求。使用大功率激光照射，以便從小粒子出獲得足夠的散射光。 自動滴定模塊：樣品的濃度及PH值是ZETA電位的重要參數，搭配了瑞士萬通的滴定儀進行檢測，真正實現了自動滴定，自動調節PH值，自動檢測ZETA電位值，免除了外界干擾和數據上的誤差，分析出樣品ZETA電位值得趨勢。