美國Innov-X 便攜式礦石分析儀的詳細信息
1.SDD X射線探測器具有驚人的計數率,高達200000,比普通的Si-Pin X射線探測器獲取數據的能力高10倍。
2.分辨率大大地提高到了，<155keV.
3.SDD強大的獲取數據能力使儀器分析速度極快。
4.Au的檢測下限LOD高達2ppm, 對貴重金屬礦石的如Au、Pt、Ag、Ru、Rh、Pd的分析有的效果。
5.可以測試Mg、Al、Si，具有良好的檢測下限。
6.元素的檢測下限LOD在SDD狀態下有極大的提高，普遍提高1~15倍。
7.在高含量的礦石分析模式MINING中增加了 BEAM2的功能，可分析Mg, Al, Si, P, S, K, Ca等元素。
8.可選配真空選件, 在真空狀態下,Mg的LOD可以提高3倍,Al的LOD可以提高2倍,Si, P, S的LOD可提高0.5~2倍
9.可選配GIS數據采集手簿TRIMBLE，數據與GPS實現綁，可將儀器測試點的礦化信息通過藍牙傳到TRIMBLE上,再與TRIMBLE上自動產生的經度、緯度、海拔進行連接,實現測試信息與GPS同步處理。
