近紅外谷物分析儀-通用型同樣采用型近紅外技術，可經濟有效地指導整個質檢機構、糧庫、面粉廠和食品廠活動：
- 選擇合適的原料：小麥、谷朊粉、面粉和其它糧食品種
- 通過對灰分的準確監控，跟蹤面粉廠各環節的工作狀態
- 對面粉產品進行質量檢測
- 通過對各規定參數的準確檢測，對原材料和相關產品進行合理定價
多參數測定
蛋白，水分，濕面筋，zeleny沉降值，吹泡儀烘焙力W，
灰分，吸水率，纖維素，淀粉等。
操作方便
大尺寸觸摸屏，軟件易操作，2個水平的參數選擇；通過下拉菜單選擇所要
測定的籽粒；檢測數據結果可通過Excel導出，易于管理
多產品測定
新增的Nacelle系統可檢測各種產品，如軟麥，硬麥，大麥，油菜籽，玉米，
黑麥，小黑麥；面粉，麥渣，麩皮和次粉；谷朊粉，淀粉等
3種版本可靈活選擇
獨特的樣品杯可分析各種粉狀樣品，新的裝樣器可節省40%的裝樣時間，同時
可以減少檢測結果的人為影響
谷粒適用型--主要適用于質檢和收糧時的谷物檢測
谷粒和粉狀物綜合型--主要適用于面粉廠對原料和終產品的全面檢測
粉狀物適用型--主要適用于面粉，谷朊粉，淀粉等粉狀樣品的檢測
檢測結果精準
利用先進光學技術和穩定可靠的定標曲線保證測量準精，只需25秒即可獲得檢測 結果.
