能量色散型X射線熒光分析儀的詳細信息
1.SONY、Panasonic認可針對塑料及電子組件中有害重金屬檢測之X射線熒光分析儀 (符合Sony STM-0085快速檢測方法)
2.采用高靈敏度硅半導體偵測，無須液態氮
3.配備CCD監視器
4.具備形狀、厚度、材質補正功能(Seiko)
5.超低檢測下限的(Cd：1.9ppm；Pb： 0.9ppm)
6.可針對鹵素Br\Cl做快速分析
產品規格
測定元素 原子編號 13 (Al) ~ 92 (U)
樣品形態 固體，粉末，液體
X光管 小型空冷式X射線管球(Rh靶)
管電壓： 15kV, 50kV 管電流： 1mA
檢測器 Si半導體檢測器(無需液態氮)
準直器 1mm, 5mm(自動切換)
樣品觀察 彩色CCD攝像頭
濾波器 4種模式自動切換
樣品室 370(W)*320(D)*155(H)mm
X-ray Station 筆記計算機或桌上型計算機
(OS; MS-windows XP)
打印機(選購) 噴墨打印機
定性分析功能 能譜測定
自動辨別，圖譜比對
定量分析功能 塊體FP法，標準曲線法
KLM標示表示，差異表示
統計處理功能 MS-EXCEL
制作 MS-WORD
設置尺寸 900(W)*700(D)*460(H)mm(不含打印機)
重量 90kg
使用電源 AC100~ 120V, 200 ~ 240V±10%, 10A
選購 有害物質判定軟件
能譜匹配軟件(材料判定)
薄膜FP軟件
薄膜標準曲線軟件
外部驅動X-Y移動臺
自動進樣器
熱門應用領域：
1、電子信息產品污染控制管理辦法，
2、WEEE&RoHS及ELV指令，
3、玩具中有害重金屬的檢測，
4、無鉛焊錫分析，
5、無鹵化分析，
6、合金分析及鍍層厚度分析
1.SONY、Panasonic認可針對塑料及電子組件中有害重金屬檢測之X射線熒光分析儀 (符合Sony STM-0085快速檢測方法)
2.采用高靈敏度硅半導體偵測，無須液態氮
3.配備CCD監視器
4.具備形狀、厚度、材質補正功能(Seiko)
5.超低檢測下限的(Cd：1.9ppm；Pb： 0.9ppm)
6.可針對鹵素Br\Cl做快速分析
產品規格
測定元素 原子編號 13 (Al) ~ 92 (U)
樣品形態 固體，粉末，液體
X光管 小型空冷式X射線管球(Rh靶)
管電壓： 15kV, 50kV 管電流： 1mA
檢測器 Si半導體檢測器(無需液態氮)
準直器 1mm, 5mm(自動切換)
樣品觀察 彩色CCD攝像頭
濾波器 4種模式自動切換
樣品室 370(W)*320(D)*155(H)mm
X-ray Station 筆記計算機或桌上型計算機
(OS; MS-windows XP)
打印機(選購) 噴墨打印機
定性分析功能 能譜測定
自動辨別，圖譜比對
定量分析功能 塊體FP法，標準曲線法
KLM標示表示，差異表示
統計處理功能 MS-EXCEL
制作 MS-WORD
設置尺寸 900(W)*700(D)*460(H)mm(不含打印機)
重量 90kg
使用電源 AC100~ 120V, 200 ~ 240V±10%, 10A
選購 有害物質判定軟件
能譜匹配軟件(材料判定)
薄膜FP軟件
薄膜標準曲線軟件
外部驅動X-Y移動臺
自動進樣器
熱門應用領域：
1、電子信息產品污染控制管理辦法，
2、WEEE&RoHS及ELV指令，
3、玩具中有害重金屬的檢測，
4、無鉛焊錫分析，
5、無鹵化分析，
6、合金分析及鍍層厚度分析
