Phoenix v|tome|x S

美國通用電氣GE工業

——可同時裝配2D檢測和3D工業 ，適用于材料、地質勘探、塑料工程、傳感/電氣、測量工程等領域
 
菲尼克斯v|tome|x s 是一款多功能高分辨率系統，可用于2D X射線檢測和3D 工業（微米和納米），也能實現3D測量。
為了增加設備的靈，v|tome|x s能夠同時裝配180kV/15W的高功率納米焦點X射線管，240kV/320W微米焦點射線管。無論是用高分辨率掃描低射線吸收率工件，還是對高射線吸收率工件進行3D分析，因為這種的組合模式使得該系統在廣泛的應用領域中成為一個、的工具。
 
應用
 
3D 工業
X射線3D 在工業中的傳統應用范圍無非是對金屬和塑料鑄件進行檢測和三維測量。然而，菲尼克斯的高分辨率X射線技術卻在傳感技術、電子、材料科學及其他自然科學中開辟了的應用領域。
 
材料科學
高分辨率（微米或納米）不能用于檢測常規材料、 復合材料，陶瓷材料和燒結，還能分析地質樣本和生物樣本。在微米分辨率下就能對材料中成分的分布、空洞和裂痕實現三維可視化。
 
地質勘探領域
高分辨率（微米或納米）廣泛應用于檢測地質樣本。例如探測新能源。高分辨率系統提供的三維圖像能夠展示別的巖石樣本、粘合劑、水泥、孔隙，以便更地判定當前樣品的特性，諸如在含油層中空洞的大小及位置。
 

塑料工程
在塑料工程中，高分辨率X射線技術通過檢測收縮腔、水泡、焊接線、裂縫以及缺陷分析來優化鑄件和噴漆工藝。X射線（微米或納米）能夠提供三維圖像以展示工件的特征，諸如晶體流動模式，填充物分布和低對比度缺陷。

傳感與電氣工程
對于傳感器和電子部件的檢測而言，高分辨率X射線技術通常被用于檢測、評估觸電、接頭、外殼、緣體和封裝狀況。還能在不破壞器件的前提下檢測半導體元件和電氣設備（焊點）。
 
測量技術
X射線3D測量技術能夠對復雜工件的內部實現非破壞性測量。相比于傳統的觸點坐標測量技術，掃描能夠同時獲取工件表面的點，包括隱藏的特征。如浮雕，采用其他的測量方式進行非破壞性測量是不可能實現的。V|tome|x配備的的3D測量包提供了實現、可重復性、界面友好的三維測量所需的。從校正模塊到表面提取模塊。除了二維壁厚測量，的體數據能夠快速、簡便地與CAD數據進行對比。比如可以用來分析整個部件的尺寸是否合設計的尺寸。
產品規格
管電壓240kV
管功率 320W
細節分辨能力 1um
焦點到工件的小距離4.5mm
像素分辨率 <2um(3D),納米配置了<1um（3D）的像素分辨率（依工件而定）

操作臺 穩定而靈活的5軸操作臺，配備高轉臺
2D X射線成像 支持
3D 功能 支持
的面數據提取技術支持（可選）
CAD比較+三維測量支持（可選）
射線護 全封閉射線護室，合德國RV和美國績效標準21th
CFR1020.4劑量率<1 uSv/h
 

英華檢測（上海）有限公司位于上海市浦東新區張江高科，是專門從事檢測設備開發、銷售與服務的公司，致力于為國內各行業客戶提供各種檢測設備及其應用解決方案。

我們的宗旨是：努力將世界上的檢測工業服務和設備介紹給國內的客戶，使國內的檢測技術與世界同步。