傳統的橢偏儀作為一個強大的薄膜表征技術已經有超過100年的歷史。而應用成像橢偏儀可以將被研究對象的尺寸下調到微米范圍，此技術可以應用于微結構樣品測試。例如，當今信息存儲設備（如各種硬盤）的讀寫頭-懸臂梁探針微傳感器表面的反應涂層就可以用成像橢偏儀進行表征。而由于傳統的橢偏儀光斑直徑很大不能用以該類測試。 同時，基于橢偏測試數據成像橢圓偏振技術可以繪制空間分辨率達到一個微米左右的三維圖像，而且在這個過程中可以同時保留傳統橢圓偏振技術亞納米膜厚分辨率的優點。利用成像橢偏儀Nanofilm_EP3SW您可以分析表征各種超薄膜，并且繪制三維立體圖形：如各種支撐膜，自組裝單分子膜和LB膜。甚至可以進行液相表面和無機膜分析：如硅基片上的二氧化硅薄膜。 產品特點 三合一技術：集成像橢偏儀；布魯斯特角顯微鏡和成像表面等離子體共振儀（SPR）于一體 實時橢偏對比顯微圖像讓您對您的樣品直接觀察—測試時能真正實時地“看”到您做的東西。 橢偏領域內的橫向分辨率讓您研究橫向尺寸小到一個微米的微結構表面。 交互式和易于使用的光學模塊 液體表面薄膜成像 使微結構薄膜和非均質薄膜的研究也能利用橢圓偏振技術 標準配置 PCSA布局（起偏器Polarizer-補償器Compensator-樣品Sample-分析器Analyser）--消光橢圓偏振技術 （658nm, 20mW）固態激光光源—其他激光源可選 768x572像素CCD 10倍物鏡 機動測角儀 手動樣品臺 EP3測試軟件，EP4模擬-擬合軟件 應用領域 微納米試樣：金箔上的硫醇薄膜；鋁箔上的SiO2薄膜 微結構薄膜：微結構支撐磷脂薄膜和混合雙層膜的橫向相分離（磷脂/糖脂） 透明基片：水面LB薄膜，玻璃上蛋白質芯片 微芯片：生物芯片質量控制；生物分子反應；吸收動力學反應；多通道測量 升級 Nanofilm_EP3SE：升級到光譜型成像橢圓偏振儀 升級到成像表面等離子共振譜儀（SPR） 原子力顯微鏡/原子探針（AFM）聯用 推薦附件 自動樣品臺 激光安全柜 固/液附件和表面等離子共振譜儀附件 溫度控制附件 液體控制附件 2倍，5倍，20倍，50倍物鏡 光斑切割元件 光斑放大/擴束元件 EP3測試附加軟件 LB槽，Z向高度控制部件 主動減震系統
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