這是一臺新設計的聚焦離子束系統,具備高分辨率成像功能。它由電子束系統(SEM)和離子束系統(FIB)組成,可以進行材料的刻蝕,沉積和TEM制樣。它可以進行實時(在刻蝕或沉積時)觀察(SEM)以及其它分析。
| AURIGA 基本參數 | ||
| 分辨率 | SEM | FIB |
| | GEMINI column 1.0 nm @ 15 kV 1.9 nm @ 1kV | Cobra column: 2.5 nm @ 30kV Canion column: 7nm@ 30kV |
| 放大倍數 | 12x – 1000 kx | 300x – 500 kx |
| 束流 | 4pA – 20 nA (80nm 可選) | 1 pA – 50 nA |
| 加速電壓 | 0.1 - 30 kV | 1.0 – 30 kV |
| 發射器 | 熱場(Schottky) | Ga 離子源(LMIS) |
| 氣體注入器系統 | a) 5個(Pt,C,W, 碘,絕緣體,氟化物等) b) 4個+局部電荷中和器(可使用所有的標準探測器) c) 一個 d) 在使用局部電荷中和器時,可使用所有的標準探測器 | |
| 樣品臺 | 6 軸超優中心馬達臺 移動范圍 X,Y = 100 mm Z = 55 mm Z” = 10 mm 傾斜= -10 - 60度,旋轉=360度 連續 AWD(分析工作距離)=5-8.5 mm | |
| 樣品交換室 | 80 mm / 100 mm 手動樣品交換 | |
| 探測器 | 高效環形 In-lens 二次電子探測器 Everhart-Thornley二次電子探測器 鏡筒內置式 EsB背散射電子探測器(帶0-1500V過濾網) 二次離子探測器(SESI) 固體背散射電子探測器 BF/DF STEM探測器 | |
| 樣品室 | 330 mm(直徑),266 mm(高) 15個接口可安裝 STEM,4QBSD,EBSD,EDS,WDS,SIMS,GIS系統,局部電荷中和器等 2個觀察用CCD. | |
| 操作顯示系統 | 基于Windows操作系統上的SmartSEM操作界面。 由鼠標,鍵盤,操作桿控制或控制板(可選) | |







