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“Nova NanoSEM 50系列”超高分辨率場發射掃描電子顯微鏡
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  • “Nova NanoSEM 50系列”超高分辨率場發射掃描電子顯微鏡
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“Nova NanoSEM 50系列”超高分辨率場發射掃描電子顯微鏡

產品價格:
電議
產品型號:
Nova NanoSEM 50
供應商等級:
企業未認證
經營模式:
工廠
企業名稱:
FEI 中國
所屬地區:
上海市
發布時間:
2012/4/13 17:34:25

021-50278805      

銷售部先生(聯系我時,請說明是在維庫儀器儀表網看到的,謝謝)

企業檔案

FEI 中國

企業未認證營業執照未上傳

經營模式:工廠

所在地:上海市

主營產品:科學儀器 電子和離子束顯微鏡

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儀器簡介:

 

Nova 系列掃描電子顯微鏡 (SEM) 具有低真空功能,是滿足研究實驗室、半導體和數據存儲實驗室和制造工廠、生物和生命科學實驗室及其他行業各種成像、分析和樣品制備需求的理想之選。 Nova 系統包含 EBIC、冷凍樣品臺、STEM、EDS、WDS 和 EBSD。


技術參數:
 

 

分辨率 高真空30 kV (STEM)
15 kV (TLD)
1 kV (TLD、無 BD)
100 V (DBS)
15 kV, 5 nA
0.8 nm
1.0 nm
1.4 nm
3.5 nm
3.0 nm
分辨率 低真空 3 kV 和 30 Pa (Helix)
10 kV
1.8 nm
1.5 nm
射束電流  高達 200 nA
著陸電壓范圍 50 V - 30 kV
樣品臺X x Y x Z (mm)110 x 110 x 25
150 x 150 x 10
機室 大試件室
探測透鏡內
透鏡下、大角度探測器
TLD SE 和 BSE
高靈敏度 DBS (SE/BSE)

主要特點:
• 場發射 SEM、超穩定高電流 Schottky 電子槍
• 先進的光學和探測技術,包括沉浸模式、射束減速、透鏡內 TLD-SE 和 TLD–BSE、DBS 和 STEM,可實現信息選擇和圖像優化
• 低至 50 V 的射束著陸能量
• 1.4 nm @ 1 kV、無射束減速
• 真正高分辨率的低真空 FESEM: 1.8 nm @ 3 kV 和 30 Pa
• 高達 200 nA 的高真空或低真空分析
• 整合式 16 位掃描/制圖引擎
• 超潔凈、無油滾動和渦輪抽氣真空系統
• 150 x 150 mm 高精密、高穩定壓電樣品臺 (Nova NanoSEM 650)

聯系方式

FEI 中國

聯系人:
銷售部先生
傳真:
021-50278209
所在地:
上海市
類型:
工廠
地址:
上海浦東碧波路690號 張江微電子港8號樓102室

服務熱線

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