儀器簡介：
技術參數：
該款儀器采用新科技分析X光熒光光譜，對貴金屬成分進行無損快速分析。該
儀器采用半導體探測器，其分辨率遠遠優于正比計數探測器，能夠準確無誤地分
析出黃金料中含銥、鋨、釕等元素。 GY-MARS貴金屬分析儀采用美國生產的硅探
測器XR-100CR。該款半導體探測器，被NASA（美國國家航空航天局）所選用作為
“勇氣”及“機遇”號火星車的探測器。GY-MARS比一般采用半導體探測器的分
析儀，在連續工作時間、對環境要求等方面有明顯的優勢。投入市場以來，受到
廣大新老客戶的信賴。
技術參數：
儀器性能指標
1．度：0.1‰—1‰
2．測量時間：100秒—300秒
3．測量范圍：金、鉑（1%—100%）其他（10%—99.99%）
4．長時間工作狀態穩定 工作環境溫度（5—28℃）工作環境濕度（20—80%RH）
5．26元素全范圍同時分析
6．電源：110V/220V
7．有分析、顯示、打印等功能
8．機電一體化