?無鹵指令篩選檢測

?玩具指令篩選檢測

?金屬鍍層測厚

?合金成分分析

美國Si-PIN電制冷半導(dǎo)體探測器

?側(cè)窗鉬（Mo）靶管

?標(biāo)配16組復(fù)合濾光片

?配置了Φ0.5mm、Φ1mm、Φ3mm、Φ4mm四種準(zhǔn)直器

?具備符合中國國家標(biāo)準(zhǔn)的樣品混側(cè)功能

?內(nèi)置標(biāo)準(zhǔn)工作曲線

?配置On-line實(shí)時(shí)在線技術(shù)支持與服務(wù)平臺(tái)

?具備開放工作曲線技術(shù)平臺(tái)

?分析軟件操作系統(tǒng)分級管理

元素種類：元素周期表中硫（S）～鈾（U）之間元素

測量時(shí)間：

        對聚合物材料，典型測量時(shí)間為200秒

        對銅基體材料，典型測量時(shí)間為400秒

檢出限指標(biāo)（LOD）：

        對聚合物材料：LOD（Pb）≤5mg/Kg；LOD（Hg）≤5mg/Kg；LOD（TCr）≤5mg/Kg；LOD（TBr）≤5mg/Kg；LOD（Cd）≤5mg/Kg

        對銅基體材料：LOD（Pb）≤50mg/Kg

精密度指標(biāo)，以連續(xù)測量7次的標(biāo)準(zhǔn)偏差σ表征：

    對聚合物（塑膠）材料：LOD（Pb）≤15mg/Kg；LOD（Hg）≤15mg/Kg；LOD（TCr）≤15mg/Kg；LOD（TBr）≤15mg/Kg；LOD（Cd）≤7mg/Kg

        對銅基體材料：LOD（Pb）≤50mg/Kg

準(zhǔn)確度指標(biāo)，以系統(tǒng)偏差δ進(jìn)行表征

        對聚合物材料：δ（Pb）≤100mg/Kg; δ（Hg）≤100mg/Kg; δ（TBr）≤100mg/Kg; δ（TCr）≤100mg/Kg; δ（Cd）≤10mg/Kg

        對銅基體材料：δ（Pb）≤150mg/Kg