CAMECA 二次離子質譜儀（CAMECA IMS 7f）

產品品牌：

CAMECA 二次離子質譜儀（CAMECA IMS 7f）

產品型號：

CAMECA 二次離子質譜儀（CAMECA IMS 7f）

CAMECA 二次離子質譜儀的主要優勢在于其極高的靈敏度、高空間分辨率（亞微米級橫向分辨率，納米級深度分辨率）以及同位素分辨本領。因其 ppb 水平檢測極限以及高分析速度和可靠性，IMS 7F 成為遍布的眾多獨立分析實驗室的主力軍。

CAMECA的SIMS技術世界。無與倫比的性能得益于其獨有的基于磁扇區原理的儀器設計。

-靈敏度：CAMECA IMS 7f 工作是的有效離子產率(useful yields- secondary ion detected per atomsputtered)比四極桿分析器高達100倍。做通常的深度剖析或者成像分析，以獲得同樣靈敏度所用時間相比，是TOF類SIMS的千分之一。(或反過來說，同樣的分析時間，TOF SIMS的靈敏度要低達1000倍)。

-質量分辨: CAMECA IMS 7f 可以分辨絕大多數質譜中存在的質量干擾，例如，31P與H30Si, 56Fe與28Si or 17O與H16O。這些干擾使得低質量分辨率質譜儀（比如四極桿類型）的探測極限大打折扣。CAMECA的SIMS獲得高質量分辨率的同時并不會降低分析速度，這是TOF質譜儀無法做到的。

-離子成像：CAMECA IMS 7f 可以對所選質量給出顯微鏡模式的圖像，分辨率達到一微米。從時間上看，這種模式下獲得圖像的速度比常規的掃描圖像模式(microprobe mode)要高幾個數量級。這種模式下還可以大大縮短調試設備的時長。
 若想獲得亞微米級分辨率的圖像，CAMECA IMS 7f 需要采用微探針模式，依靠動態光學傳輸以及高亮離子源達到業界水準的靈敏度和分辨率。

-高分析效率: A high efficiency optical gate is used to eliminate crater edge effects for combining high sputter rate and high dynamic range in the depth profile mode. Full computer control of the instrument allowing unattended analyses with different analysis recipe