平面性誤差:≤λ/100精細度：F≧30直徑： Φ20，Φ25厚度：0.5，1，1.4，2，5，10（厚度和尺寸可按用戶需求定制）材料：石英 多層介質高反膜系可按用戶要求制作。通常為R＝95%，△λ＝200nm。本儀器是高分辨率儀器，因為其片性，使用時無須調節，方便輕巧。廣泛用于光譜精細結構、同位素位移譜線輪廊與寬度及塞曼效應的觀測；激光模式觀測和選模、選頻；光通信中作為濾波器用于波分復用。
一用途：
Fabry-Parot標準具是一種應用廣泛的高分辨干涉分光儀器。可用于高分辨光譜學，和來研究波長靠近的譜線，諸如元素的同位素光譜、光譜的精細結構、光散射時微小的頻移，原子移動引起的譜線多普勒位移，和譜線內部的結構形狀；也可用作高分辨光學濾波器、構造精密波長計；在激光系統中它經常用于腔內壓窄譜線或使激光系統單模運行，分析激光中的光譜成分（縱模、橫模）當然也少不了它。
二如何選用：
根據具體實驗目標選用合適參數的標準具是實驗成功的前提。所附“浙江大學物理系近代物理實驗教材（附件1）”中簡述了FP標準具各個參數的意義。使用時應選好以下參數：
- 精細度F。主要取決于鏡面反射率R(λ)，同時受鏡面被照射部分平整度和平行度的限制。還受限于探測器的空間分辨率。
- 峰值透過率TMax。被研究光源是弱光源時，應重視此參數，以獲得探測時要的信噪比。它取決于反射膜的損耗和鏡面介質的損耗，以及鏡面的反射率。
- 襯比因子C。當被研究光源很弱時。要注意C以抑制背景信號。C主要取決于鏡面反射率R。
另外，還應選擇有溫度穩定性的振性能良好的標準具對順利完成實驗有重要意義，在這方面，固體標準具，后者又空氣隙具壓電掃描標準具。
三、產品介紹：
本公司主要成員從1979年開始就致力于Fabry-Parot干涉儀（標準具）的研究。1985年研制成功氣壓掃描F-P標準具并出色地用于塞曼效應實驗，通過省級鑒定，拍攝了教學錄像片，在國內眾多高校傳播。1986年獲教委二等獎（見附件２）在北大、清華、復旦、浙大應用受到好評（見附件3）后來與中科院上海硅酸鹽所合作研制了“雙重壓電控制高F-P平鏡平面度測量干涉儀”并于2000年通過省級鑒定（見附件4）測試λ/1000以上。了制作的標準具關鍵指標“平面度”在λ/100以上，質量可以與國外昂貴產品。固體FP標準具技術參數：
1.平面性誤差小于λ∕100,精細度≥30。
2.幾何厚度系列有：1、1.4、2、5、10mm(也可按用戶要求制作)。在不同波長時，其介質折射率為：
λ(nm) 365.5 404.7 435.8 546.1 587.6 656.3
n 1.474 1.470 1.467 1.460 1.458 1.456
其中厚度為1.40mm的尤其適合作為磁感應強度Ｂ＝1.0～1.2T時塞曼效應的觀測。
3.鏡面膜層為多層介質膜，反射率約94％，高反波段寬度大于1000Å，中心波長5461Å。（也可按用戶要求制作）
4．基片直徑：ф20，ф25。
5．外框尺寸：外徑ф32，厚16mm（片厚1.0,1.4,2.0mm）；19mm(片厚5mm);24mm(片厚10mm) 。
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