Nanite原子力顯微鏡測量模式: 接觸式原子力顯微鏡，真正非接觸式原子力顯微鏡，橫向力/摩擦力顯微鏡（LFM），導電原子力顯微鏡，磁力顯微鏡（MFM），開爾文探針（Kelvin Probe），掃描熱原子力顯微鏡（SThM），電容和靜電力顯微鏡（EFM），的納米光刻和納米操作能力，音叉原子力顯微鏡，三維掃描成像。
Nanite原子力顯微鏡關鍵特點：
l 大尺寸樣品臺，全自動測量直徑為160mm樣品。
l PZT/voice coil雙模式技術AFM
l 多功能小樣品Cervantes FullMode SPM-TS原子力顯微鏡控制器DULCINEA
l 先進的32-bit DSP控制器，反饋技術(掃描范圍>10um時掃描20 Hz,消除爬行現象)
l 掃描和分析軟件
l 可以進行納米壓痕和劃痕實驗
l 極輕針尖樣品逼近技術
l 極快速一鍵逼近(從針尖樣品離開任意遠處),無需預逼近
l 光學系統
l 掃描器范圍:110um X & Y range,24um Z range
l XY閉環掃描技術
l 自動運動臺,馬達驅動, 原子力顯微鏡可以拼接測量
l 獨特開放性軟硬件構架設計, 并開放所有源代碼供您的二次開發
l 可以測量超大樣品(任意尺寸>200,300,500mm)
