- 產品品牌：
- 橋橋科技
- 產品型號：
- Bscan Test Station
- 類型：
- 0
邊界掃描測試發展于上個世紀90年代，隨著大規模集成電路的出現，印制電路板制造工藝向小，微，薄發展，傳統的ICT 測試已經沒有辦法滿足這類產品的測試要求。由于芯片的引腳多，元器件體積小，板的密度特別大，根本沒有辦法進行下探針測試。一種新的測試技術產生了，聯合測試行為組織（Joint Test Action Group）簡稱JTAG 定義這種新的測試方法即邊界掃描測試。被國際電工委員會收錄為IEEE1149.1-1990 邊界掃描測試測試訪問端口和邊界掃描結構標準。該標準規定了進行邊界掃描測試所需要的硬件和軟件。自從1990 年批準后，IEEE 分別于1993 年和1995 年對該標準作了補充，形成了現在使用的IEEE1149.1a-1993 和IEEE1149.1b-1994。JTAG 主要應用于：電路的邊界掃描測試和可編程芯片的在線系統編程.
