一、X熒光光譜儀工作原理
X射線發生器放出的X射線與樣品中元素的原子相互作用，逐出原子內層電子。當外層電子補充內層電子時，會放射該原子所固有能量的X射線－特征X射線。根據受激后退激過程中所放出的特征X射線能量各不相同，依此進行定性分析；根據特征X射線強度大小，可進行定量分析。EDX1800B相同配置

二、X熒光光譜儀基本特點
 探測器采用美國航天技術的半導體探測器，能量分辨率優于149ev；l
 真空測量，限度的提高測量元素的檢測限，有利于鹵素測量；l
l 自動調整光管功率，對激發輕元素和中重元素都有良好的激發效果；
 圓形品倉設計，適應于各種樣品的檢測，可以測量國體、液體、粉末；l
l 開放式工作曲線標定平臺,可量身定做的有害物質檢測和控制方案；
l 采用國際的XRF分析軟件，融合了包括經驗系數法、基本參數法（FP法）、理論α系數法等多種經典分析方法，全面保證測試數據的準確性。EDX1800B
l 采用模式識別及數據庫技術，實現儀器分析智能化；
 配置濾光片裝置大幅提高峰背比；l
 校正方式：采用歐盟RoHS 塑膠標樣校準數據；l
 可根據用戶要求自行定制測試輸出格式（Excel、PDF等），符合工廠多種統計及格式要求。l
l 可以在ROHS分析軟件上開展不銹鋼、合金、貴金屬及全元素分析。
 一體化設計，性能穩定，運行可靠，性價比高；l
l 適用于電子產品、工具、玩具等RoHS/WEEE有害元素（Pb、Hg、Br、Cd、Cr）檢測；
l 雙重射線保護（軟件、硬件），確保操作人員輻射安全，獲四川環保局安全豁免管理。EDX1800B相同配置
三、X熒光光譜儀主要技術指標
 分析元素范圍：Mg-U；l
l 元素含量分析范圍：1ppm -99.9%；
 采用美國進口的Si (PIN)半導體探測器計數，能量分辨率優于140eV；l
l 測量范圍：1－30KeV； EDX1800B
 重復性：l >65%>97%(N為計數率)；
l 正高壓：5kV-50kV；管流：1μA-500μA；
 真空泵額定功率：550W；l
 儀器額定功率：50W；l
l 整機能量分辨率：145eV；
 檢測時間：120S～600S（時間隨樣品而調整）；l
 10秒鐘真空度可達10-2Pal ，高真空區域10-1-10-5Pa；
 檢出限：Cd/Cr/Hg/Br/Pb≤5ppm,Cl≤20ppm；l
 儀器重量：40Kg；l
 儀器尺寸：700（W）* 400（D）*430（H）mm；lEDX1800B同配置
四、X熒光光譜儀配置
1 主機1臺（大功率鎢靶X光管、50KV正高壓電源、進口Si (PIN)電致冷半導體探測器、2048道分析器）
2 壓樣模具1套
3 真空系統1套
4 壓樣機1套
5專用軟件1套
6 品牌計算機1套
7 激光打印機1臺
8 吸塵器1臺
9 隨機配件1套
EDX1800B相同配置