泰克TDR阻抗測試儀，HDIM，USB3.0，DisplayPort，SATA等行業協會推薦的TDR高頻測試方案，同時也可以進行損耗等頻域測試。
特點 | 優點 |
| 多達4條真正差分通道，業內的噪底(450 fs)和的垂直分辨率(16位) | 在高分辨率、低噪聲的測量系統中使用真正差分TDR激勵源，提供的信號查看能力，滿懷信心地、準確地檢定芯片和背板/連接器設計 |
| 準確的TDR，采用遠程采樣頭，高帶寬(50 GHz)時域反射計 | 12ps入射階躍，使用遠程采樣頭，把TDR頭放到被測器件附近，限度地減少探頭、電纜和夾具的影響，解決直到1mm的阻抗不連續點 |
| 光學模塊為155 Mb/s - 100 Gb/s的所有標準提供了的帶寬、靈敏度、噪聲性能和回波損耗(信號保真度) | 準確地、可重復地檢定155 Mb/s到40 - 100 Gb/s及以上速率的ITU和以太網設計 |
| 串行數據網絡、串行數據鏈路和抖動/噪聲分析軟件包選項 | 使用一臺儀器進行時域分析和頻域分析，降低測試成本。準確地分析信號路徑，預測信號串擾和抖動，保證系統可靠運行。使用抖動、噪聲和BER分析，確定眼圖閉上的確切原因 |
| 全面集成碼型同步觸發 | 集成高速觸發功能，支持苛刻的數字/邏輯碼型，保證準確捕獲事件 |
| 緊密集成時鐘恢復功能，準確地進行眼圖分析 | 支持全面集成的時鐘恢復功能或時鐘恢復觸發攔截功能，在與泰克或第三方時鐘恢復儀器一起使用時，提供經過校準的解決方案，支持155 Mb/s - 100 Gb/s信令 |
