- 品牌/商標：美國博曼
- 企業類型：貿易商
- 新舊程度：全新
- 原產地：美國
x-ray膜厚儀（膜厚測試儀）只需短短數秒鐘，所有從17號元素氯到92號元素鐳的所有元素都能準確測定.可測量：
單一鍍層：Zn， Ni，Cr，Cu，Ag，Au，Sn等。 二元合金層：例如Fe上的SnPb，ZnNi和NiP合金。
三元合金層：例如Ni上的AuCdCu合金。
雙鍍層：例如Au/Ni/Cu，Cr/Ni/Cu，Au/Ag/Ni，Sn/Cu/Brass，等等。
雙鍍層，其中一個鍍層為合金層：例如Cr/NiCu/Plastic；Fe。
X-RAY鍍層膜厚儀 在技術上一直以來都于全世界的測厚行業,X-射線熒光鍍層厚度測量儀能夠測量包含原子序號17至92的典型元素的電鍍層、鍍層、表膜和液體,極薄的浸液鍍層（銀、金、鈀、錫等）和其它薄鍍層。
A：區別材料并定性或定量測量合金材料的成份百分含量可同時測定多4層及24種元素。
B ：度于世界，到0.025mil
C ：數據統計功能允許用戶自定義多媒體分析格式，以滿足您特定的分析格式要求,如在分析中插入數據圖表、測定位置的圖象、CAD文件等。
D ：統計功能提供數據平均值、誤差分析、值、小值、數據變動范圍、相對偏差、UCL(控制上限)、LCL(控制下限)、CpK圖、直方圖、X-bar/R圖等多種數據分析模式。能夠測量多種幾何形狀各種尺寸的樣品；
E ：可測量任一測量點，小可達0.025 x 0.051毫米
美國BOWMAN（博曼）鍍層膜厚儀應用范圍較廣的標準型鍍層厚度測量儀 分析:詳述.元素范圍鋁13到鈾92。.x射線激發能量50 W(50 kv和1 ma)鎢靶射線管?探測器硅PIN檢測器250 ev的分辨率或更高的分辨率.測量的分析層和元素5層(4層鍍層+基材)和10種元素在每個鍍層成分分析的同時多達25元素，應用于.五金,電鍍,端子.連接器.金屬等多個領域.
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