X熒光光譜儀 (NAU1000)

　　型號：NaU1000
　　新品（免拆分）
　　應用領域
　　RoHS指令篩選檢測
　　分析方法及系統軟件
　　分析方法配置：
　　基于蒙特卡洛計算模型的基本參數法
　　經驗系數法
　　理論α系數法
　　軟件功能描述：
　　RoHS指令、無鹵指令等指令所限制的Pb、Hg、Cd、TCr、TBr、Cl等元素含量的分析
　　各種金屬材料、無機非金屬材料（不包括聚合物材料）的材質分析（S～U元素）
　　聚合物等材料中硫（S）～鈾（U）元素的含量分析
　　分析的自主定制與輸出打印
　　分析結果的保存、查詢及統計
　　On-Line實時在線技術支持與技術服務功能（選配）
　　多層鍍層厚度測量功能（選配）
　　主要配置
　　美國Si-PIN電制冷半導體探測器
　　側窗鉬（Mo）靶管
　　標配12組復合濾光片
　　配置了Φ1mm、Φ3mm、Φ4mm四種準直器
　　具備合中國標準的樣品混側功能
　　內置標準工作曲線
　　具備開放工作曲線技術平臺
　　分析軟件操作系統分級管理
　　產品參數
　　名稱：X熒光光譜儀
　　型號：NaU1000
　　輸入電壓：220&plun;5V/50Hz
　　消耗功率：≤500W
　　環境溫度：15-30℃
　　環境濕度：≤80%（不結露）
　　主機外形（mm）：長＊寬＊高＝820*500*425
　　樣品倉（mm）：長＊寬＊高＝430*380*105
　　主機重量：約55公斤
　　技術指標
　　元素種類：元素周期表中硫（S）～鈾（U）之間元素
　　測量時間：
　　對聚合物材料，典型測量時間為300秒
　　對銅基體材料，典型測量時間為600秒
　　檢出限指標（LOD）：
　　對聚合物材料：LOD（Pb）≤5mg/Kg；LOD（Hg）≤5mg/Kg；LOD（TCr）≤5mg/Kg；LOD（TBr）≤5mg/Kg；LOD（Cd）≤5mg/Kg
　　對銅基體材料：LOD（Pb）≤50mg/Kg
　　精密度指標，以連續測量7次的標準偏差σ表征：
　　對聚合物（塑膠）材料：LOD（Pb）≤15mg/Kg；LOD（Hg）≤15mg/Kg；LOD（TCr）≤15mg/Kg；LOD（TBr）≤15mg/Kg；LOD（Cd）≤7mg/Kg
　　對銅基體材料：LOD（Pb）≤50mg/Kg
　　準確度指標，以系統偏差δ進行表征
　　對聚合物材料：δ（Pb）≤100mg/Kg；δ（Hg）≤100mg/Kg；δ（TBr）≤100mg/Kg；δ（TCr）≤100mg/Kg；δ（Cd）≤10mg/Kg