應用領域
？RoHS指令篩選檢測（具備Mapping功能）
？無鹵指令篩選檢測（具備Mapping功能）
？玩具指令篩選檢測
應用領域
？RoHS指令篩選檢測（具備Mapping功能）
？無鹵指令篩選檢測（具備Mapping功能）
？玩具指令篩選檢測
？日用消費品中限制元素篩選檢測
？合金成分分析
適用于：
？CN-RoHS指定檢測實驗室
？大型企業集團中心檢測實驗室
分析方法及系統軟件
分析方法配置：
？ 基于蒙特卡洛計算模型的基本參數法
？ 經驗系數法
？ 理論α系數法
軟件功能描述：
？ RoHS指令、無鹵指令等指令所限制的Pb、Hg、Cd、TCr、TBr、Cl等元素含量的分析
？ 各種金屬材料、無機非金屬材料（不包括聚合物材料）的材質分析（S～U元素）
？ 聚合物等材料中硫（S）～鈾（U）元素的含量分析
？ 分析的自主定制與輸出打印
？ 分析結果的保存、查詢及統計
？ On-Line實時在線技術支持與技術服務功能
？多層鍍層厚度測量功能
主要配置
？SDD硅漂移電制冷半導體探測器
？側窗鉬（Mo）靶管
？標配16組復合濾光片
？配置了Φ0.5mm、Φ1mm、Φ3mm、Φ4mm四種準直器
？具有自動Mapping功能
？具備合中國標準的樣品混側功能
？內置標準工作曲線
？配置On-line實時在線技術支持與服務平臺
？具備開放工作曲線技術平臺
？分析軟件操作系統分級管理
產品參數
？名稱：X熒光光譜儀
？型號：NDA500
？輸入電壓：220±5V/50Hz
？消耗功率：≤500W
？環境溫度：15-30℃
？環境濕度：≤80%（不結露）
？主機外形（mm）:長＊寬＊高=900*500*440
？樣品倉（mm）:長＊寬＊高=430*380*120
？主機重量：約60公斤
技術指標
？元素種類：元素周期表中硫（S）～鈾（U）之間元素
？測量時間：
對聚合物材料，典型測量時間為30秒
對銅基體材料，典型測量時間為30秒
？檢出限指標（LOD）：
對聚合物材料：LOD（Pb）≤5mg/Kg；LOD（Hg）≤5mg/Kg；LOD（TCr）≤5mg/Kg；LOD（TBr）≤5mg/Kg；LOD（Cd）≤5mg/Kg
對銅基體材料：LOD（Pb）≤50mg/Kg
？RoHS指令篩選檢測（具備Mapping功能）
？無鹵指令篩選檢測（具備Mapping功能）
？玩具指令篩選檢測
應用領域
？RoHS指令篩選檢測（具備Mapping功能）
？無鹵指令篩選檢測（具備Mapping功能）
？玩具指令篩選檢測
？日用消費品中限制元素篩選檢測
？合金成分分析
適用于：
？CN-RoHS指定檢測實驗室
？大型企業集團中心檢測實驗室
分析方法及系統軟件
分析方法配置：
？ 基于蒙特卡洛計算模型的基本參數法
？ 經驗系數法
？ 理論α系數法
軟件功能描述：
？ RoHS指令、無鹵指令等指令所限制的Pb、Hg、Cd、TCr、TBr、Cl等元素含量的分析
？ 各種金屬材料、無機非金屬材料（不包括聚合物材料）的材質分析（S～U元素）
？ 聚合物等材料中硫（S）～鈾（U）元素的含量分析
？ 分析的自主定制與輸出打印
？ 分析結果的保存、查詢及統計
？ On-Line實時在線技術支持與技術服務功能
？多層鍍層厚度測量功能
主要配置
？SDD硅漂移電制冷半導體探測器
？側窗鉬（Mo）靶管
？標配16組復合濾光片
？配置了Φ0.5mm、Φ1mm、Φ3mm、Φ4mm四種準直器
？具有自動Mapping功能
？具備合中國標準的樣品混側功能
？內置標準工作曲線
？配置On-line實時在線技術支持與服務平臺
？具備開放工作曲線技術平臺
？分析軟件操作系統分級管理
產品參數
？名稱：X熒光光譜儀
？型號：NDA500
？輸入電壓：220±5V/50Hz
？消耗功率：≤500W
？環境溫度：15-30℃
？環境濕度：≤80%（不結露）
？主機外形（mm）:長＊寬＊高=900*500*440
？樣品倉（mm）:長＊寬＊高=430*380*120
？主機重量：約60公斤
技術指標
？元素種類：元素周期表中硫（S）～鈾（U）之間元素
？測量時間：
對聚合物材料，典型測量時間為30秒
對銅基體材料，典型測量時間為30秒
？檢出限指標（LOD）：
對聚合物材料：LOD（Pb）≤5mg/Kg；LOD（Hg）≤5mg/Kg；LOD（TCr）≤5mg/Kg；LOD（TBr）≤5mg/Kg；LOD（Cd）≤5mg/Kg
對銅基體材料：LOD（Pb）≤50mg/Kg
