美國AMPTEK航天技術的Si(PIN)半導體探測器系列;
的數字脈沖采集電路及的電源管理技術;
國產小功率X光管;
的X光管高壓電源;
金屬濾光片技術和切換技術;
精密的系統控制電路和數字處理電路;
配備高清晰度CCD攝像頭樣品觀察系統(16倍光學變焦,500萬像素);
配備1、2、2.5、3mm直徑4種尺寸的準直器切換使用(2.5mm為標配準直器尺寸);
配備品牌電腦;
配備品牌寬屏液晶顯示器;
配備品牌激光打印機;
U2.0藍牙配適器;
配備的制樣機;
配備的真空泵;
的測試薄膜及測試樣環;
的測試標樣。
CIT−3000SYB能量色散X熒光分析儀技術指標:
分析元素范圍:Mg-U;
元素含量分析范圍:1ppm-99.9%(采用1024道多道分析器,分析更高);
采用美國航天技術的Si(PIN)半導體探測器計數,配合的數字脈沖處理技術,能量分辨率160eV;
測量范圍:1−30KeV;
重復性:>65%>97%(N為計數率);
高壓:5kV-40kV;
管流:1μA-500μA(可減少整機功耗和降低輻射);
整機額定功率:50W;
整機能量分辨率:160eV;
真空泵額定功率:550W;
10秒鐘真空度可達10-2PA(高真空區域10-1-10-5PA);
檢測時間:120S〜600S(時間隨樣品而調整);
儀器重量:40Kg;
儀器尺寸:600(W)X550(D)X570(H)mm;
圓形樣品真空腔:直徑14cm,高5cm;
工作環境溫度:0-40℃(建議放置于空調房中并保持適當溫度,避免機體過熱影響測試);
檢出限:CD/Cr/Hg/Br/Pb≤5ppm,Cl≤20PPm;
工作環境相對濕度:≤80%;
測量物質狀態:固體、粉末、液體均可測,制樣簡單;
校正方式:采用歐盟RoHS 塑膠標樣校準數據;
一體化設計,性能穩定,運行,;操作簡單,測量時間短,同時配備PC機,分析儀通過無線藍牙技術可單獨和PC進行通信測試,方便使用;
穩定的鹵素測試模式(Cl 總和Br 總)和的RoHS 測試模式;
適用于電子產品、工具、玩具等RoHS/WEEE有害元素(Pb、Hg、Br、CD、Cr)檢測;
適用于服裝行業纖維、布料中鉛的含量測試、拉鏈紐扣等RoHS有害物質檢測;
適用于銅行業進行銅的成分、含量檢測及合金分析;
鋼鐵、鋁業、水泥、有色、玻璃、耐火材料等行業全元素的快速檢測。








