CIT-2000SM X射線熒光分析儀，是四川新先達測控技術有限公司開發研制的新一代多道微機化分析儀。該儀器采用正比技術管探測器、以同位素源238Pu作為激發源，具有分析速度快、分析元素多、分析高、操作簡單、維護方便等特點，廣泛適用于各有色、黑色礦山、選礦廠、質檢站、水泥廠、陶瓷廠、玻璃廠等室。
整機主要技術指標
樣品用量：15克；
樣品粒度：120目以上；
能量分辨率：12-15％；
測量元素：Ca、Fe、Ti、Mn、Cu、Pb、Zn、Ni等；
穩定性：0.002；
溫度系數≤0.0004／℃工作環境溫度15-25℃；
分析速度快，在2-5分鐘內即可分析待測元素的含量；
本儀器適合單一礦種、各種精礦的測量，可以同時分析一、兩種元素。
對各元素的分析均可標準要求。
整機主要技術指標
樣品用量：15克；
樣品粒度：120目以上；
能量分辨率：12-15％；
測量元素：Ca、Fe、Ti、Mn、Cu、Pb、Zn、Ni等；
穩定性：0.002；
溫度系數≤0.0004／℃工作環境溫度15-25℃；
分析速度快，在2-5分鐘內即可分析待測元素的含量；
本儀器適合單一礦種、各種精礦的測量，可以同時分析一、兩種元素。
對各元素的分析均可標準要求。
