UBand SLG-500錫膏測厚儀
非接觸式激光測厚儀是由激光器產生線型光束，以的傾角投射到待測量目標（錫膏）上，因為待測目標與周圍基板存在高度差，此時觀測到的目標和基板上的激光束相應出現斷續落差，如圖1-1所示。根據三角函數關系可以通過該落差間距計算出待測目標截面與周圍基板的高度差，從而實現非接觸式的快速測量。
產品特性
1.Windows視窗界面，操作簡單；
2.測量值可記錄存檔及打印；
3.測量數值準確無誤；
4.可隨電路板厚度的不同調整焦距；
5.機身小巧靈活，移動方便。
適用
1.各種厚度、寬度與長度的測量與統計分析；
2.錫膏印刷制程品管的檢查；
3.錫膏印刷成型后的尺寸量測；
4.在允許測量范圍內同樣適用與其它物品的測量與檢驗；
功能
1.測量厚度、長度、寬度、間距、直徑、角度；
2.提供高度分布數值；
3.不同錫膏厚度的分析與控制；
4.測量結果的單點及多點列表；
5.X-Bar管制圖，Range管制圖；
6.Cp，Cpk管制圖及統計報表。
規格參數：（桌面式）
測量原理：非接觸鐳射光源
可視范圍：6.4 X 5.1 mm 檢測范圍：高度，長度，角度，圓周光源：LED
工作臺尺寸：480×500mm
重復測量：0.001mm
相機：320萬（CCD相機）高色素彩色相機
電腦：Intel Duo Core，Windows O/S
單位：Inch，mm，mils，Microns
統計表：X-Bar，Range，Cp，Cpk
電源：AC 200V~240V，single phase，50/60Hz，達式
環境：溫度：10~40°C，濕度：30~80%RH
尺寸：（W x D x H）480 x 450 x 300 mm（L*W*H）
軟件需求：
Windows 2000（Service Pack 4），Windows XP（Service Pack 1）
軟件操作界面
這是一個基于檢查和測量的工具。它通過X，Y和Z軸進行測量，通過Z軸測量的數據將實時統計到SPC結果中。它允許導出數據（文本或Excel格式）和圖片。用戶可以自行設置任意產品類型的SPC限。通過對產品進行測量，所得結果與對應產品類型的SPC限比較，給出‘P’（通過）或‘Fail‘（失敗）結果。除標準的X，Y和Z測量容易掌握外，還提供幾何測量功能，它能使直徑和角度測量更快，更容易！
非接觸式激光測厚儀是由激光器產生線型光束，以的傾角投射到待測量目標（錫膏）上，因為待測目標與周圍基板存在高度差，此時觀測到的目標和基板上的激光束相應出現斷續落差，如圖1-1所示。根據三角函數關系可以通過該落差間距計算出待測目標截面與周圍基板的高度差，從而實現非接觸式的快速測量。
產品特性
1.Windows視窗界面，操作簡單；
2.測量值可記錄存檔及打印；
3.測量數值準確無誤；
4.可隨電路板厚度的不同調整焦距；
5.機身小巧靈活，移動方便。
適用
1.各種厚度、寬度與長度的測量與統計分析；
2.錫膏印刷制程品管的檢查；
3.錫膏印刷成型后的尺寸量測；
4.在允許測量范圍內同樣適用與其它物品的測量與檢驗；
功能
1.測量厚度、長度、寬度、間距、直徑、角度；
2.提供高度分布數值；
3.不同錫膏厚度的分析與控制；
4.測量結果的單點及多點列表；
5.X-Bar管制圖，Range管制圖；
6.Cp，Cpk管制圖及統計報表。
規格參數：（桌面式）
測量原理：非接觸鐳射光源
可視范圍：6.4 X 5.1 mm 檢測范圍：高度，長度，角度，圓周光源：LED
工作臺尺寸：480×500mm
重復測量：0.001mm
相機：320萬（CCD相機）高色素彩色相機
電腦：Intel Duo Core，Windows O/S
單位：Inch，mm，mils，Microns
統計表：X-Bar，Range，Cp，Cpk
電源：AC 200V~240V，single phase，50/60Hz，達式
環境：溫度：10~40°C，濕度：30~80%RH
尺寸：（W x D x H）480 x 450 x 300 mm（L*W*H）
軟件需求：
Windows 2000（Service Pack 4），Windows XP（Service Pack 1）
軟件操作界面
這是一個基于檢查和測量的工具。它通過X，Y和Z軸進行測量，通過Z軸測量的數據將實時統計到SPC結果中。它允許導出數據（文本或Excel格式）和圖片。用戶可以自行設置任意產品類型的SPC限。通過對產品進行測量，所得結果與對應產品類型的SPC限比較，給出‘P’（通過）或‘Fail‘（失敗）結果。除標準的X，Y和Z測量容易掌握外，還提供幾何測量功能，它能使直徑和角度測量更快，更容易！
