正本測功機(jī)產(chǎn)品特點(diǎn)
以內(nèi)嵌式工業(yè)計(jì)算機(jī)為數(shù)據(jù)采集和控制，采用自主的CPLD控制模塊、電量采集模塊和轉(zhuǎn)矩控制模塊，通過數(shù)據(jù)總線的方式進(jìn)行通訊。克服了串口通訊速度慢的缺點(diǎn)，200K的數(shù)據(jù)采樣頻率，閉環(huán)轉(zhuǎn)矩PID調(diào)節(jié)，使得測量過程中的數(shù)據(jù)采集能夠更快、更多，能夠?qū)崿F(xiàn)邊測量邊顯示測量結(jié)果。的硬件濾波電路和軟件濾波算法，得到的測量數(shù)據(jù)更加真實(shí)，不使用擬合算法也能測量的目的，從而使得測量結(jié)果能夠真實(shí)的反映電機(jī)的實(shí)際性能，更具有性。良好的干擾和電磁兼容能力，具備對無刷電機(jī)、伺服電機(jī)和步進(jìn)電機(jī)的電機(jī)輸入功率的測試能力，為國內(nèi)。
針對國內(nèi)測功機(jī)用電磁材料性能不能滿足測試要求的現(xiàn)狀，全系標(biāo)配美國原裝剎車器，剎車效果不會隨著時(shí)間增加而發(fā)生變化。免維護(hù)，壽命長，可控性好，再現(xiàn)性好。長期使用不會發(fā)熱，轉(zhuǎn)子不會因材料應(yīng)力而碎裂損壞，不會產(chǎn)生國內(nèi)產(chǎn)品普遍存在的扭力下降的問題。控制電流只有國內(nèi)同類產(chǎn)品的二分之一，了低功耗、低損耗的同時(shí)，也降低了控制器的功率，了控制模塊的使用壽命。可以提供比額定參數(shù)高20%的扭力，并且不會損壞自身的器件。25000轉(zhuǎn)/分的實(shí)際測試轉(zhuǎn)速，是目前國內(nèi)制造的測功機(jī)能夠的轉(zhuǎn)速。
的測試軟件具備良好的適應(yīng)性，對普通電機(jī)和控制電機(jī)的不同性能能夠做到兼容，能夠做到不同測試方式、方法的互不干涉。測試方式和過程可以按具體測試要求進(jìn)行修改，使測試變得更加隨心所欲，軟件升級。
其它廠家的測功機(jī)產(chǎn)品
國內(nèi)其它電機(jī)測功機(jī)的制造廠商，采用普通的電參數(shù)儀和轉(zhuǎn)矩控制儀，作為測試和控制的基本單元，采用搭積木的方式，配合國產(chǎn)剎車器和普通電腦，完成控制和測試任務(wù)。各測試和控制單元，通過串口和電腦進(jìn)行通訊，利用軟件實(shí)現(xiàn)對電機(jī)性能的測試。大部分產(chǎn)品在測試定點(diǎn)力矩時(shí)需要操作員手工調(diào)節(jié)，測試過程中的電流和轉(zhuǎn)速是否合格，需要操作員工判斷，既不能實(shí)現(xiàn)自動的電機(jī)轉(zhuǎn)接線控制，也不能進(jìn)行力矩多定點(diǎn)的測試。電參數(shù)儀的性能也是基于直流和工頻信號的測量，對于中頻和高頻信號無能為力，對無刷電機(jī)、伺服電機(jī)和步進(jìn)電機(jī)等控制類電機(jī)的輸入功率無法進(jìn)行測試。
各單元的控制和測量的芯片均為早期的單片機(jī)，而不是DSP芯片。單片機(jī)功能雖比較，但運(yùn)算速度比較慢。在對電機(jī)進(jìn)行動態(tài)測量過程中，數(shù)據(jù)采集速度跟不上被測量的變化，會不可避免的出現(xiàn)數(shù)據(jù)丟失，并產(chǎn)生誤差。這樣就會導(dǎo)致測試結(jié)果不準(zhǔn)確，出現(xiàn)不同時(shí)間同一產(chǎn)品測試結(jié)果相差較大的現(xiàn)象。為讓數(shù)據(jù)表面看上去美觀，使用軟件對測試結(jié)果進(jìn)行擬合。人為的干預(yù)，直接導(dǎo)致測量結(jié)果和實(shí)際性能相差較大。從而使測量結(jié)果的隨機(jī)性大，測量數(shù)據(jù)本身也就失去了。
測功機(jī)是利用電磁材料的磁力特性做為負(fù)載，目前國內(nèi)的電磁材料和國外相比，性能上的差距比較大。在磁力相互作用產(chǎn)生模擬負(fù)載時(shí)，不可避免的會在導(dǎo)磁材料上產(chǎn)生渦流。由于測功機(jī)工作時(shí)產(chǎn)生的渦流很大，往往使得材料表面和內(nèi)部產(chǎn)生很大的溫差。國產(chǎn)材料由于溫差會產(chǎn)生應(yīng)力，測功機(jī)轉(zhuǎn)子部分的溫差造成的應(yīng)力就會不斷的累積，長時(shí)間或滿負(fù)載使用就容易出現(xiàn)故障，產(chǎn)生不可逆轉(zhuǎn)的損壞。這也是國產(chǎn)測功機(jī)目前功率不能做大，壽命不長的一個(gè)主要原因。
以內(nèi)嵌式工業(yè)計(jì)算機(jī)為數(shù)據(jù)采集和控制，采用自主的CPLD控制模塊、電量采集模塊和轉(zhuǎn)矩控制模塊，通過數(shù)據(jù)總線的方式進(jìn)行通訊。克服了串口通訊速度慢的缺點(diǎn)，200K的數(shù)據(jù)采樣頻率，閉環(huán)轉(zhuǎn)矩PID調(diào)節(jié)，使得測量過程中的數(shù)據(jù)采集能夠更快、更多，能夠?qū)崿F(xiàn)邊測量邊顯示測量結(jié)果。的硬件濾波電路和軟件濾波算法，得到的測量數(shù)據(jù)更加真實(shí)，不使用擬合算法也能測量的目的，從而使得測量結(jié)果能夠真實(shí)的反映電機(jī)的實(shí)際性能，更具有性。良好的干擾和電磁兼容能力，具備對無刷電機(jī)、伺服電機(jī)和步進(jìn)電機(jī)的電機(jī)輸入功率的測試能力，為國內(nèi)。
針對國內(nèi)測功機(jī)用電磁材料性能不能滿足測試要求的現(xiàn)狀，全系標(biāo)配美國原裝剎車器，剎車效果不會隨著時(shí)間增加而發(fā)生變化。免維護(hù)，壽命長，可控性好，再現(xiàn)性好。長期使用不會發(fā)熱，轉(zhuǎn)子不會因材料應(yīng)力而碎裂損壞，不會產(chǎn)生國內(nèi)產(chǎn)品普遍存在的扭力下降的問題。控制電流只有國內(nèi)同類產(chǎn)品的二分之一，了低功耗、低損耗的同時(shí)，也降低了控制器的功率，了控制模塊的使用壽命。可以提供比額定參數(shù)高20%的扭力，并且不會損壞自身的器件。25000轉(zhuǎn)/分的實(shí)際測試轉(zhuǎn)速，是目前國內(nèi)制造的測功機(jī)能夠的轉(zhuǎn)速。
的測試軟件具備良好的適應(yīng)性，對普通電機(jī)和控制電機(jī)的不同性能能夠做到兼容，能夠做到不同測試方式、方法的互不干涉。測試方式和過程可以按具體測試要求進(jìn)行修改，使測試變得更加隨心所欲，軟件升級。
其它廠家的測功機(jī)產(chǎn)品
國內(nèi)其它電機(jī)測功機(jī)的制造廠商，采用普通的電參數(shù)儀和轉(zhuǎn)矩控制儀，作為測試和控制的基本單元，采用搭積木的方式，配合國產(chǎn)剎車器和普通電腦，完成控制和測試任務(wù)。各測試和控制單元，通過串口和電腦進(jìn)行通訊，利用軟件實(shí)現(xiàn)對電機(jī)性能的測試。大部分產(chǎn)品在測試定點(diǎn)力矩時(shí)需要操作員手工調(diào)節(jié)，測試過程中的電流和轉(zhuǎn)速是否合格，需要操作員工判斷，既不能實(shí)現(xiàn)自動的電機(jī)轉(zhuǎn)接線控制，也不能進(jìn)行力矩多定點(diǎn)的測試。電參數(shù)儀的性能也是基于直流和工頻信號的測量，對于中頻和高頻信號無能為力，對無刷電機(jī)、伺服電機(jī)和步進(jìn)電機(jī)等控制類電機(jī)的輸入功率無法進(jìn)行測試。
各單元的控制和測量的芯片均為早期的單片機(jī)，而不是DSP芯片。單片機(jī)功能雖比較，但運(yùn)算速度比較慢。在對電機(jī)進(jìn)行動態(tài)測量過程中，數(shù)據(jù)采集速度跟不上被測量的變化，會不可避免的出現(xiàn)數(shù)據(jù)丟失，并產(chǎn)生誤差。這樣就會導(dǎo)致測試結(jié)果不準(zhǔn)確，出現(xiàn)不同時(shí)間同一產(chǎn)品測試結(jié)果相差較大的現(xiàn)象。為讓數(shù)據(jù)表面看上去美觀，使用軟件對測試結(jié)果進(jìn)行擬合。人為的干預(yù)，直接導(dǎo)致測量結(jié)果和實(shí)際性能相差較大。從而使測量結(jié)果的隨機(jī)性大，測量數(shù)據(jù)本身也就失去了。
測功機(jī)是利用電磁材料的磁力特性做為負(fù)載，目前國內(nèi)的電磁材料和國外相比，性能上的差距比較大。在磁力相互作用產(chǎn)生模擬負(fù)載時(shí)，不可避免的會在導(dǎo)磁材料上產(chǎn)生渦流。由于測功機(jī)工作時(shí)產(chǎn)生的渦流很大，往往使得材料表面和內(nèi)部產(chǎn)生很大的溫差。國產(chǎn)材料由于溫差會產(chǎn)生應(yīng)力，測功機(jī)轉(zhuǎn)子部分的溫差造成的應(yīng)力就會不斷的累積，長時(shí)間或滿負(fù)載使用就容易出現(xiàn)故障，產(chǎn)生不可逆轉(zhuǎn)的損壞。這也是國產(chǎn)測功機(jī)目前功率不能做大，壽命不長的一個(gè)主要原因。
