TR Scan在滿足測量的同時,也了納米級,幾微秒就可以獲得點三維圖形。正是因為如此快的速度,消除了因振動帶來的誤差,由此克服光學測量系統的傳統誤差。
其測量頭可兼容探針(接觸式測量),并可與其他光學測量傳感器互換使用,復合式的測量解決方案,可檢定各種表面結構,應用于各行各業:機械工業(加工表面),汽車,航天航空,表面涂敷,聚合涂層,光學元件,儀器,假肢制造,微型機電系統,造紙,半導體,科研機構以及計量單位。
Trimos®NaWare軟件控制測量過程及分析結果。模塊化的概念滿足不同的要求及持續性開發。NaWare能完成測量結果的分析評估,并能生成的檢測。
擁有國際的評價標準程序來實時更新國際標準測量合以下標準:ISO(4287,4288,11562,1101,12085,13563,等),法國標準NF,制造標準CMO,ASME(B46.1)和DIN標準;三維表面特征數據標準ISO 25178系列通用


