JET-300在線測(cè)試機(jī)（IN CIRCUIT TTER）是經(jīng)由量測(cè)電路板上件，包括電阻、電容、電感、二體、電晶體、FET、SCR、LED 和IC等，檢測(cè)出電路板產(chǎn)品的各種缺點(diǎn)諸如：線路短路、斷路、缺件、錯(cuò)件、件不良或裝配不良等，并明確地指出缺點(diǎn)的所在位置，幫助使用者產(chǎn)品的品質(zhì)，并不良品檢修效率。它還使用可用數(shù)億次開(kāi)關(guān)的磁簧式繼電器（REED RELAY），是當(dāng)今測(cè)試涵蓋率，測(cè)試穩(wěn)定，使用方便，提供資料的在線測(cè)試機(jī)。
以下是JET-300的產(chǎn)品特性：
硬件規(guī)格：REED RELAY的掃描板
JET-300的掃描板采用了可耐用二億次的REED RELAY，徹底解決了I掃描板容易損壞的問(wèn)題，由于REED RELAY的應(yīng)用，使JET-300在性能上大有。諸如：Zener diode測(cè)試電壓可達(dá)50v，測(cè)試點(diǎn)皆可使用；小電容和小電感量測(cè)較準(zhǔn)確和穩(wěn)定，較不受溫度的影響；電容性的可偵測(cè)率較用CMOS RELAY時(shí)大為；可耐高壓又有殘存電壓偵測(cè)功能，掃描板受到充分的保護(hù)；配置功能測(cè)試的可行性較高。
Agilent TtJet Technology
美國(guó)安捷倫公司針對(duì)SMD IC接腳開(kāi)路完整偵測(cè)的問(wèn)題，成功的研發(fā)出Agilent TtJet Technology的技術(shù)以因應(yīng)。本公司在取得安捷倫公司的授權(quán)后，已于JET-300 I 系統(tǒng)上配備了此技術(shù)，大幅了數(shù)字電路板的可偵測(cè)率。計(jì)算機(jī)主機(jī)板、適配卡或傳真機(jī)、調(diào)制解調(diào)器的機(jī)板皆可得到滿意的測(cè)試效果。其應(yīng)用上的優(yōu)點(diǎn)如下：Agilent TtJet Technology的功能是利用量測(cè)一個(gè)銅箔板與IC腳框（Frame）之間的電容量來(lái)偵測(cè)接腳的斷路與否。此技術(shù)無(wú)需撰寫(xiě)任何程序，即可做正確而的測(cè)試；Agilent TtJet Technology可測(cè)試各種不同包裝的IC，如Insertion te，PLCC te，QFP te，TAB te，PGA te（無(wú)接地者），BGA te（OMPAC）等都可測(cè)試；Agilent TtJet Technology也可用來(lái)偵測(cè)各種插座的接腳斷路，不論是Insertion te或是SMD te皆可偵測(cè)。
寬頻而準(zhǔn)確的相位分離量測(cè)法：
對(duì)于在RC或RL并聯(lián)電路中的R.L.C.可用相位測(cè)量法，分別量出其件值，由于信號(hào)源頻率寬廣（100Hz到1MHz），因此可以偵測(cè)的范圍一般的I，像下圖線路中的件都可以準(zhǔn)確量測(cè)。
三端點(diǎn)、四端點(diǎn)量測(cè)
JET-300可對(duì)三端點(diǎn)的件如TRANSISTOR，DIGITAL TRANSISTOR，F(xiàn)ET，SCR等。或四端點(diǎn)件如PHOTO COUPLER，做正確的測(cè)試，如有反插或件損壞，可測(cè)出。TRANSISTOR的β值也可量測(cè)。
電解電容性測(cè)試
以三端點(diǎn)法偵測(cè)鋁質(zhì)電解電容性反插，可測(cè)率100％；以測(cè)漏電流方式偵測(cè)電解電容性反插，可測(cè)率高。
軟件系統(tǒng)
JET-300擁有一般I的軟體功能，無(wú)論是在測(cè)試前的程序制作支持軟體，或是測(cè)試后的不良信息和資料分析，都有高水平的表現(xiàn)。在微軟中文窗口環(huán)境下執(zhí)行的系統(tǒng)程序，操作容易，大。
差件（焊點(diǎn)）
系統(tǒng)可打印出不良數(shù)多的件（名）和不良次數(shù)多的焊點(diǎn)（點(diǎn)）供廠商做品質(zhì)控制或制程的參考。
測(cè)試數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)的日?qǐng)?bào)表和月報(bào)表
圖表上半的長(zhǎng)條圖用以顯示當(dāng)月份每日累積OPEN／SHORT，件不良率及整個(gè)測(cè)試的可接受率。圖表的下半派圖用以清楚明了地顯示當(dāng)日各不良原因的百分比。
網(wǎng)絡(luò)實(shí)時(shí)監(jiān)控系統(tǒng)
如果把多臺(tái)I連到內(nèi)部網(wǎng)絡(luò)系統(tǒng)，則每一臺(tái)I的測(cè)試統(tǒng)計(jì)資料都可以在網(wǎng)絡(luò)上的任何一臺(tái)計(jì)算機(jī)上顯示，管理者可以很方便地查看生產(chǎn)線的狀況。
網(wǎng)絡(luò)錯(cuò)誤訊息查詢系統(tǒng)
只要把I和檢修站都連到內(nèi)部網(wǎng)絡(luò)系統(tǒng)，則在檢修站就可以檢視到不良板的錯(cuò)誤訊息，包括：打印機(jī)的印出訊息和錯(cuò)誤圖形顯示。
待測(cè)板圖形顯示功能
可在待測(cè)板不良發(fā)生時(shí)，明白顯示不良件或焊點(diǎn)的位置，亦可在件位置查詢時(shí)顯示件的位置，此功能可大大縮短不良品檢修的時(shí)間和程序調(diào)適的時(shí)間。如果廠內(nèi)有網(wǎng)絡(luò)聯(lián)機(jī)系統(tǒng)，則此圖形亦可在維修站的屏幕上顯示出來(lái)。
以下是JET-300的產(chǎn)品特性：
硬件規(guī)格：REED RELAY的掃描板
JET-300的掃描板采用了可耐用二億次的REED RELAY，徹底解決了I掃描板容易損壞的問(wèn)題，由于REED RELAY的應(yīng)用，使JET-300在性能上大有。諸如：Zener diode測(cè)試電壓可達(dá)50v，測(cè)試點(diǎn)皆可使用；小電容和小電感量測(cè)較準(zhǔn)確和穩(wěn)定，較不受溫度的影響；電容性的可偵測(cè)率較用CMOS RELAY時(shí)大為；可耐高壓又有殘存電壓偵測(cè)功能，掃描板受到充分的保護(hù)；配置功能測(cè)試的可行性較高。
Agilent TtJet Technology
美國(guó)安捷倫公司針對(duì)SMD IC接腳開(kāi)路完整偵測(cè)的問(wèn)題，成功的研發(fā)出Agilent TtJet Technology的技術(shù)以因應(yīng)。本公司在取得安捷倫公司的授權(quán)后，已于JET-300 I 系統(tǒng)上配備了此技術(shù)，大幅了數(shù)字電路板的可偵測(cè)率。計(jì)算機(jī)主機(jī)板、適配卡或傳真機(jī)、調(diào)制解調(diào)器的機(jī)板皆可得到滿意的測(cè)試效果。其應(yīng)用上的優(yōu)點(diǎn)如下：Agilent TtJet Technology的功能是利用量測(cè)一個(gè)銅箔板與IC腳框（Frame）之間的電容量來(lái)偵測(cè)接腳的斷路與否。此技術(shù)無(wú)需撰寫(xiě)任何程序，即可做正確而的測(cè)試；Agilent TtJet Technology可測(cè)試各種不同包裝的IC，如Insertion te，PLCC te，QFP te，TAB te，PGA te（無(wú)接地者），BGA te（OMPAC）等都可測(cè)試；Agilent TtJet Technology也可用來(lái)偵測(cè)各種插座的接腳斷路，不論是Insertion te或是SMD te皆可偵測(cè)。
寬頻而準(zhǔn)確的相位分離量測(cè)法：
對(duì)于在RC或RL并聯(lián)電路中的R.L.C.可用相位測(cè)量法，分別量出其件值，由于信號(hào)源頻率寬廣（100Hz到1MHz），因此可以偵測(cè)的范圍一般的I，像下圖線路中的件都可以準(zhǔn)確量測(cè)。
三端點(diǎn)、四端點(diǎn)量測(cè)
JET-300可對(duì)三端點(diǎn)的件如TRANSISTOR，DIGITAL TRANSISTOR，F(xiàn)ET，SCR等。或四端點(diǎn)件如PHOTO COUPLER，做正確的測(cè)試，如有反插或件損壞，可測(cè)出。TRANSISTOR的β值也可量測(cè)。
電解電容性測(cè)試
以三端點(diǎn)法偵測(cè)鋁質(zhì)電解電容性反插，可測(cè)率100％；以測(cè)漏電流方式偵測(cè)電解電容性反插，可測(cè)率高。
軟件系統(tǒng)
JET-300擁有一般I的軟體功能，無(wú)論是在測(cè)試前的程序制作支持軟體，或是測(cè)試后的不良信息和資料分析，都有高水平的表現(xiàn)。在微軟中文窗口環(huán)境下執(zhí)行的系統(tǒng)程序，操作容易，大。
差件（焊點(diǎn)）
系統(tǒng)可打印出不良數(shù)多的件（名）和不良次數(shù)多的焊點(diǎn)（點(diǎn)）供廠商做品質(zhì)控制或制程的參考。
測(cè)試數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)的日?qǐng)?bào)表和月報(bào)表
圖表上半的長(zhǎng)條圖用以顯示當(dāng)月份每日累積OPEN／SHORT，件不良率及整個(gè)測(cè)試的可接受率。圖表的下半派圖用以清楚明了地顯示當(dāng)日各不良原因的百分比。
網(wǎng)絡(luò)實(shí)時(shí)監(jiān)控系統(tǒng)
如果把多臺(tái)I連到內(nèi)部網(wǎng)絡(luò)系統(tǒng)，則每一臺(tái)I的測(cè)試統(tǒng)計(jì)資料都可以在網(wǎng)絡(luò)上的任何一臺(tái)計(jì)算機(jī)上顯示，管理者可以很方便地查看生產(chǎn)線的狀況。
網(wǎng)絡(luò)錯(cuò)誤訊息查詢系統(tǒng)
只要把I和檢修站都連到內(nèi)部網(wǎng)絡(luò)系統(tǒng)，則在檢修站就可以檢視到不良板的錯(cuò)誤訊息，包括：打印機(jī)的印出訊息和錯(cuò)誤圖形顯示。
待測(cè)板圖形顯示功能
可在待測(cè)板不良發(fā)生時(shí)，明白顯示不良件或焊點(diǎn)的位置，亦可在件位置查詢時(shí)顯示件的位置，此功能可大大縮短不良品檢修的時(shí)間和程序調(diào)適的時(shí)間。如果廠內(nèi)有網(wǎng)絡(luò)聯(lián)機(jī)系統(tǒng)，則此圖形亦可在維修站的屏幕上顯示出來(lái)。
