Hl霍爾效應測試系統
NAMETRICS HL5500PC
1.可測試半導體材料及外延層材料電阻系數，載流子濃度及遷移率
2.應用材料：Si、III-V、II-VI和寬禁帶半導體材料CIGS銅銦鎵錫薄膜
3.無需對Sample加工，即可Van Der Pauw、Bar、Bridge三種形式測試
4.使用磁場：磁場強度0.32T&plun;1%，十年內漂移率小于 0.1%，中心25mm內磁場均勻度小于&plun;1%，磁場強度選擇 0.1/0.2/0.4/0.5T
5.可測試100GΩ之樣品
6.可選配90〜500K、室溫-600℃，LHe液氦溫區4K或10K之變溫測試平臺
我司另有其他型號規格的設備：
LED外延磊晶系列：HL霍爾效應測試系統、PL Mapping 光熒光光譜儀、全自動電化學C-V測試系統、X射線繞射儀、快速EL測試系統、非接觸式面電阻測試儀、LED襯底材料厚度/平坦度測試儀等。
LED芯片制程系列：LED芯片測試機、半自動LED芯片探針臺、手動LED芯片探針臺、LED芯片/成品老化測試系統、LED靜電能力測試儀、ITO表面電阻測試儀、ITO膜厚/反射/折射/率測量系統等。
LED封裝測試系列：D/TOP LED材料測試分選機、大功率LED材料測試系統、手動LED芯片來料抽檢系統、LED視角機、LED分光光譜儀、LED波長檢測儀、離子風扇系列等。
NAMETRICS HL5500PC
1.可測試半導體材料及外延層材料電阻系數，載流子濃度及遷移率
2.應用材料：Si、III-V、II-VI和寬禁帶半導體材料CIGS銅銦鎵錫薄膜
3.無需對Sample加工，即可Van Der Pauw、Bar、Bridge三種形式測試
4.使用磁場：磁場強度0.32T&plun;1%，十年內漂移率小于 0.1%，中心25mm內磁場均勻度小于&plun;1%，磁場強度選擇 0.1/0.2/0.4/0.5T
5.可測試100GΩ之樣品
6.可選配90〜500K、室溫-600℃，LHe液氦溫區4K或10K之變溫測試平臺
我司另有其他型號規格的設備：
LED外延磊晶系列：HL霍爾效應測試系統、PL Mapping 光熒光光譜儀、全自動電化學C-V測試系統、X射線繞射儀、快速EL測試系統、非接觸式面電阻測試儀、LED襯底材料厚度/平坦度測試儀等。
LED芯片制程系列：LED芯片測試機、半自動LED芯片探針臺、手動LED芯片探針臺、LED芯片/成品老化測試系統、LED靜電能力測試儀、ITO表面電阻測試儀、ITO膜厚/反射/折射/率測量系統等。
LED封裝測試系列：D/TOP LED材料測試分選機、大功率LED材料測試系統、手動LED芯片來料抽檢系統、LED視角機、LED分光光譜儀、LED波長檢測儀、離子風扇系列等。
