HP4145A半導體參數測試儀可以快速的對半導體器件和材料進行直流參數測試。特性如下：
1、半導體器件全自動、直流測試；
2、具有高分辨率、寬測量范圍：I：1pA-100mA，V：1mV-100V ；
3、分辨率1150；
4、內置微型軟盤，可存儲240個用戶程序或105個測試結果。
1、半導體器件全自動、直流測試；
2、具有高分辨率、寬測量范圍：I：1pA-100mA，V：1mV-100V ；
3、分辨率1150；
4、內置微型軟盤，可存儲240個用戶程序或105個測試結果。
