●可根據用戶要求制作單面，雙面I測試治具。
●采用探針：INGUN、E、QA、E、CCP、日本電針等，任意選擇；
●結構材料采用壓克力、電木板、玻纖板、布紋板、鐵板等；
●結構框架可選用鐵框：美觀、耐用、靜電、可循環使用；
●天板采用雙層結構、四軸定位，壓棒下壓正確不易壓到件；
●采用縮孔技術，探針精準度；
●可安裝HP Test Jet功能之感應板及放大器，及測試JET I SCAN功能；
●上下模植針，上下模定位采用直線軸承定位，定位、耐用，上下模之間的轉接可采用探針或排線轉接；
●電容性測試大電容反插、開關探針測試排插反向、有無。
●采用探針：INGUN、E、QA、E、CCP、日本電針等，任意選擇；
●結構材料采用壓克力、電木板、玻纖板、布紋板、鐵板等；
●結構框架可選用鐵框：美觀、耐用、靜電、可循環使用；
●天板采用雙層結構、四軸定位，壓棒下壓正確不易壓到件；
●采用縮孔技術，探針精準度；
●可安裝HP Test Jet功能之感應板及放大器，及測試JET I SCAN功能；
●上下模植針，上下模定位采用直線軸承定位，定位、耐用，上下模之間的轉接可采用探針或排線轉接；
●電容性測試大電容反插、開關探針測試排插反向、有無。
