孔徑測量(阿貝像點)儀是利用光學像點原理進行非接觸瞄準的高測量儀。可以用來測量:精密通孔直徑,圓柱外徑;平行平面間距等長度尺寸,并且可以對同一尺寸在不同高度截面上進行分截面檢測。
由于該儀器結構設計合阿貝原則,能夠實現工件自然狀態下的高測量,1995年技術監督局將其列入標準環規計量檢定規程(JJG894-95)中,指定為二等環規檢定的測量儀器。
藍亞公司更又在原機基礎上,對原光學成像光路進行了大膽改進,實現了工件找正、測量不同的觀察視場要求,并利用圖像處理技術實現了像點重合位置的自動撲捉,更進一步了原系統的測量,在國內非接觸高測量中居于。應用高heidenhain光柵尺讀數頭獲得高示值及直接測量功能。
主要技術參數:
①量程:外尺寸:0—200 mm
內尺寸:Ф0.2—Ф200 mm
②計數分辨率:0.1μm
③像素分辨率:3—0.5μm
④示值誤差:&plun;0.3+L/200(μm),L單位為mm
⑤測量不確定度:U≤0.5μm(k=3)
⑥重復:≤0.2μm
⑦工作臺荷重:15kg
⑧毛重:150kg
環境要求:
室溫:20&plun;0.5℃
溫度漂移:0.2℃
室內平衡溫度的時間:≥24h
工作及工裝工具平衡溫度時間:≥4h
工作電源:220V 60Hz
主要特征及軟件功能:
LIKC型光學孔徑測距儀是一種合阿貝原則的多用途計量儀器。可測量孔徑、槽寬、外徑、孔間距和平行平面的距離。是集光、機、電、計數機、軟件、現代圖像處理技術、數據采集處理技術于一體的高科技產品。
①測量不確定度:U≤0.3&plun;L/200μm,高于一般常規長度計量儀;
②重復高:功能的智能化、自動化、定量化避免了人為誤差,從而使重復更加;
③示值更高:應用現代數據采集及處理技術,實現了長度示值的校正補償處理,了示值;
④找正采點更高:采用光學像原理及的光學回路設計,提供了采點找正的方式,了找正采點;
⑤智能化測量:了軟件測量效率,減少了勞動強度,應用現代計數機技術,測量功能得到進一步擴展,省去了大部分人為勞動,是測量過程程序化、智能化;
⑥完善的測量管理軟件:可實時監控記錄測量過程,提示監督操作人員正確操作;
⑦強大的軟件庫:后續數據庫管理功能,可方便的對測量過程及終結果保存,提取,輸出,打印,為現代質量管理體系提供了強有力的支持。
注:1.用戶可根據需求選用我公司測量軟件;2.公司將對改造時所加裝的軟件進行升級。







