珍珠珠層厚度檢測(cè)儀
產(chǎn)品簡(jiǎn)介：
利用近紅外光，對(duì)珍珠珠層厚度進(jìn)行傷實(shí)時(shí)斷層成像，并分析、測(cè)量、評(píng)價(jià)珍珠的品質(zhì)。
珍珠珠層厚度檢測(cè)儀
1、臺(tái)近紅外光珍珠珠層成像儀（發(fā)明號(hào)：.6）。
2、利用低功率近紅外光對(duì)珍珠成像，照射到樣品的光功率1-2mW，波長(zhǎng)為1.3微米，無放射性，對(duì)檢測(cè)工作者和珍珠樣品傷，檢測(cè)實(shí)驗(yàn)室無需放射性屏蔽，不會(huì)對(duì)工作人員產(chǎn)生潛在的X線放射性危害；
3、與傳統(tǒng)的X線前向成像相比，本產(chǎn)品采用了的非接觸式背向散射成像技術(shù)實(shí)現(xiàn)了單珠檢測(cè)，使用于半成品、成品珍珠飾的測(cè)量成為可能；
4、直觀的珍珠珠層圖像，準(zhǔn)確測(cè)量珍珠珠層厚度，分辨率可達(dá)0.03毫米；
5、儀器小型化，安裝、使用方便，可在生產(chǎn)工廠、檢測(cè)機(jī)構(gòu)、分銷單位、售單位等場(chǎng)所直接使用，且適用于車載流動(dòng)檢測(cè)；
6、成像檢測(cè)速度快，每個(gè)樣品用1-2秒，可選配分選器，適用于珍珠養(yǎng)殖、生產(chǎn)過程中的分級(jí)、篩選。
產(chǎn)品簡(jiǎn)介：
利用近紅外光，對(duì)珍珠珠層厚度進(jìn)行傷實(shí)時(shí)斷層成像，并分析、測(cè)量、評(píng)價(jià)珍珠的品質(zhì)。
珍珠珠層厚度檢測(cè)儀
1、臺(tái)近紅外光珍珠珠層成像儀（發(fā)明號(hào)：.6）。
2、利用低功率近紅外光對(duì)珍珠成像，照射到樣品的光功率1-2mW，波長(zhǎng)為1.3微米，無放射性，對(duì)檢測(cè)工作者和珍珠樣品傷，檢測(cè)實(shí)驗(yàn)室無需放射性屏蔽，不會(huì)對(duì)工作人員產(chǎn)生潛在的X線放射性危害；
3、與傳統(tǒng)的X線前向成像相比，本產(chǎn)品采用了的非接觸式背向散射成像技術(shù)實(shí)現(xiàn)了單珠檢測(cè)，使用于半成品、成品珍珠飾的測(cè)量成為可能；
4、直觀的珍珠珠層圖像，準(zhǔn)確測(cè)量珍珠珠層厚度，分辨率可達(dá)0.03毫米；
5、儀器小型化，安裝、使用方便，可在生產(chǎn)工廠、檢測(cè)機(jī)構(gòu)、分銷單位、售單位等場(chǎng)所直接使用，且適用于車載流動(dòng)檢測(cè)；
6、成像檢測(cè)速度快，每個(gè)樣品用1-2秒，可選配分選器，適用于珍珠養(yǎng)殖、生產(chǎn)過程中的分級(jí)、篩選。
