特性
●全自動化量測設計
●使用者可自行與標準樣品做校正，無須負擔龐大的校正費用
●軟體可配合使用者的習慣或需要做部分修改
●可產生各種使用者所單色光譜光源及功率
●采用CIE 1931，和CIE1976 U.C.S標準及演等方法
●可逹小數點4位小數的高測量儀，操作介面簡單、外形小巧等特點。
●能測量不同形式的LED，例如LED Chip，SMD，Lamp，Module，LED Display.
量測范圍
光譜儀的波長范圍：350nm–1050nm
波長間隔：0.5nm
輻射強度：0–5000mW／sr±5％
色度座標：±0.000
●全自動化量測設計
●使用者可自行與標準樣品做校正，無須負擔龐大的校正費用
●軟體可配合使用者的習慣或需要做部分修改
●可產生各種使用者所單色光譜光源及功率
●采用CIE 1931，和CIE1976 U.C.S標準及演等方法
●可逹小數點4位小數的高測量儀，操作介面簡單、外形小巧等特點。
●能測量不同形式的LED，例如LED Chip，SMD，Lamp，Module，LED Display.
量測范圍
光譜儀的波長范圍：350nm–1050nm
波長間隔：0.5nm
輻射強度：0–5000mW／sr±5％
色度座標：±0.000
