SFT9400系列
X射線熒光鍍層厚度測量儀SFT9000系列里的機型「SFT9400系列」搭載有75W高功率X射線管與雙檢測器（半導測器＋比例計數管），能滿足“薄膜鍍層”、“合金鍍層”、“微小面積測量”等鍍層厚度測量需求的鍍層厚度測量儀。
此外，SFT9400系列還在測量鍍層厚度的基礎上，新增了可對不同被測物體積材料進行定性分析和成分分析的功能。
窗體
產品特點：
★ 搭載有高功率X射線管及雙檢測器（半導測器＋比例計數管）
可對應組合復雜的應用程序，是可識別Ni和Cu之類能量較為接近的元素。
能夠對Ni／Cu和Au／Ni／Cu在不使用二次濾波器的情況下進行測量
對于含Br的電路板，可以不受Br的干擾對Au的鍍層厚度進行高的測量
可測量0.01μm以下的的Au鍍層厚度
★搭載塊體FP發軟件和薄膜FP法軟件
對應含鉛的合金鍍膜和多層鍍膜等，適用于廣泛的運用領域
★適用微小面積的測量
標準配備的15μmΦ的準直器，可對微小面積進行測量。
★搭載了可3段切換的變焦距光學系統
★擁有沖撞功能
★搭載高樣品平臺，更可測量大型線路板（SFT9455）
★搭載激光對焦系統
★搭載測試自動生成軟件
X射線熒光鍍層厚度測量儀SFT9000系列里的機型「SFT9400系列」搭載有75W高功率X射線管與雙檢測器（半導測器＋比例計數管），能滿足“薄膜鍍層”、“合金鍍層”、“微小面積測量”等鍍層厚度測量需求的鍍層厚度測量儀。
此外，SFT9400系列還在測量鍍層厚度的基礎上，新增了可對不同被測物體積材料進行定性分析和成分分析的功能。
窗體
產品特點：
★ 搭載有高功率X射線管及雙檢測器（半導測器＋比例計數管）
可對應組合復雜的應用程序，是可識別Ni和Cu之類能量較為接近的元素。
能夠對Ni／Cu和Au／Ni／Cu在不使用二次濾波器的情況下進行測量
對于含Br的電路板，可以不受Br的干擾對Au的鍍層厚度進行高的測量
可測量0.01μm以下的的Au鍍層厚度
★搭載塊體FP發軟件和薄膜FP法軟件
對應含鉛的合金鍍膜和多層鍍膜等，適用于廣泛的運用領域
★適用微小面積的測量
標準配備的15μmΦ的準直器，可對微小面積進行測量。
★搭載了可3段切換的變焦距光學系統
★擁有沖撞功能
★搭載高樣品平臺，更可測量大型線路板（SFT9455）
★搭載激光對焦系統
★搭載測試自動生成軟件
