I測試治具即InCircuitest測試治具的縮寫，就是在線檢測、測試治具。是對在線元器件的電性能及電氣連接進行測試來檢查生產制造缺陷及元器件不良的一種標準測試設備。它主要用于檢查在線的單個元器件以及各電路網絡的開、短路情況，具有操作簡單、快捷、故障定位準確等特點，I測試治具可進行模擬器件功能和數字器件邏輯功能測試，故障覆蓋率高，對每種單板需制作的針床，這個針床在工業生產上就叫它I測試治具。
　　
　　一、I的通用功能：
　　1.I能夠在短短的數秒鐘內，全檢出組裝電路板上件：電阻、電容、電感、電晶體、FET、LED，普通二體、穩壓二體、光藕器、IC等件，是否在我們設計的規格內運作。
　　2.I能夠先期找出制程不良所在，如線路短路、斷路、組件漏件、反向、錯件、空焊等不良問題，回饋到制程的。
　　3.I能夠將上述故障或不良資訊以印表機印出測試結果，包括故障位置、件標準值、測試值，以供維修人員參考。可以降低人員對產品技術依賴度，不需對產品線路了解，照樣有維修能力。
　　4.能夠將測試不良資訊統計，生產管理人員加以分析，可以找出各種不良的產生原因，包括人為的因素在內，使之各個解決、完善、指正，借以電路板制造及品質能力。
　　正是由于I以上功能所帶給客戶的大效益，才有今天I得已廣泛運用的現實！
　　
　　二、I功能：
　　1.電解電容性測試技術：
　　電解電容反向、漏件100%可測
　　并聯電解電容反向、漏件100%可測
　　電解電容性測試技術的工作原理：
　　1.1I就是利用第三根針施加一激發訊號（Trigger Signal）于電解電容，并量測第三點與正或負端間的反應訊號（如圖三）
　　1.2I利用DSP（數字訊號處理）技術加以運算后，轉換成一組向量（Veors）透過DFT（Discrete Fourier Transform，離散式傅立葉變換）及FFT（Fast Fourier Transform，快速傅立葉變換）等運算方式，將量得的反應訊號由 t（time）domain（示波器訊號）轉換成 f（frequency）domain（頻譜分析儀訊號）的向量組。
　　1.3經由Learning取得一組標準向量值，而后待測物（DUT---Device Under Test）所量測的值（如圖五）再經Pattern Match（特征辨識比對技術）與原標準值比對，以決定待測物性正確與否。
　　Pattern Match的應用如：指紋辨識、辨識、視網膜辨識等均是。