電子顯微鏡樣品制備過程中，在樣品進行離子減薄之前，須將其拋磨至40μm以下的厚度，然后才能進行離子減薄或雙噴減薄。試樣拋磨器及精密拋磨儀是專為解決這一令人頭痛的問題而設計的，它積累了設計者在顯微鏡TEM樣品制備過程中多年來積累的經驗，較好地解決了制樣的倒角問題。該設備主要適用于金屬、陶瓷及半導體等固體材料的TEM樣品在離子減薄前對樣品預減薄與拋光。同時，也適用于金相樣品的磨制及拋光。
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