LCR測(cè)試儀3532-50基本±0.08%，42Hz～5MHz的測(cè)試頻率，5ms測(cè)量，測(cè)量14種參數(shù)，能提供與元器件工作條件更為接近的測(cè)試條件。可很容易地測(cè)試被測(cè)物在高頻量程內(nèi)的特性。操作簡(jiǎn)便，改變?cè)O(shè)置時(shí)通過觸模屏幕，所需的設(shè)定選項(xiàng)會(huì)順序排列顯示出來
　　LCR測(cè)試儀3532-50利用外部I/O接口，事先將登錄的測(cè)量條件輸入，進(jìn)行不同測(cè)量條件的樣品選擇/評(píng)估。通過改變測(cè)量條件，登錄恰當(dāng)?shù)臏y(cè)量條件、比較條件，相對(duì)同一樣品也可進(jìn)行連續(xù)測(cè)量。用一臺(tái)測(cè)量?jī)x，構(gòu)筑于多品種的自動(dòng)化生產(chǎn)線，實(shí)現(xiàn)快5ms的測(cè)量。
　　LCR測(cè)試儀HIOKI　3532-50性能特點(diǎn)：
　　測(cè)試｜Z｜，L，C，R
　　測(cè)試源頻率42Hz～5MHz
　　測(cè)量：5ms
　　搭配寬幅測(cè)試頻率的阻測(cè)試儀
　　測(cè)試頻率可在42Hz～5MHz寬廣頻率量程內(nèi)以4位度自由調(diào)整
　　可很容易地測(cè)試被測(cè)物在高頻量程內(nèi)的特性。操作簡(jiǎn)便，改變?cè)O(shè)置時(shí)通過觸模屏幕，所需的設(shè)定選項(xiàng)會(huì)順序排列顯示出來