產品
NCS-R80無接觸厚度電阻率測試儀是一款用于硅片的厚度、電阻率測量的儀器，該儀器適用于Si，GaAs，InP，Ge等幾乎的材料，的設計都合ASTM（美國材料實驗協會）和Semi標準，與其他工藝儀器的兼容與統一。
特征
■無接觸傷測量
■電阻率和厚度同時測量
■適用的晶圓材料包括Si，GaAs，InP，Ge等幾乎的材料
■電腦觸摸屏顯示
■干擾強，穩定性好
■強大的工控機控制和大屏幕顯示
■一體化設計操作更方便，系統穩定
■為晶圓硅片關鍵生產工藝提供的無接觸測量
技術指標
■測試尺寸：50mm-300mm.
■厚度測試范圍：1000 um，可擴展到1700 um
■厚度測試：＋/-0.25um
■厚度重復性：0.050um
■TTV 測試：＋/-0.05um
■TTV重復性：0.050um
■電阻率測試范圍：0.1ohm.cm——50 ohm.cm
■電阻率測試：＋/-2%
■電阻率測量重復：＋/-1%
■晶圓硅片導電型號：P 或 N型
■材料：Si，GaAs，InP，Ge等幾乎半導體材料
■可用在：切片后、磨片前、后，蝕刻，拋光以及出廠、入廠質量檢測等
■平面/缺口：的半導體標準平面或缺口
■硅片安裝：裸片，藍寶石/石英基底，黏膠帶
■連續5點測量
NCS-R80無接觸厚度電阻率測試儀是一款用于硅片的厚度、電阻率測量的儀器，該儀器適用于Si，GaAs，InP，Ge等幾乎的材料，的設計都合ASTM（美國材料實驗協會）和Semi標準，與其他工藝儀器的兼容與統一。
特征
■無接觸傷測量
■電阻率和厚度同時測量
■適用的晶圓材料包括Si，GaAs，InP，Ge等幾乎的材料
■電腦觸摸屏顯示
■干擾強，穩定性好
■強大的工控機控制和大屏幕顯示
■一體化設計操作更方便，系統穩定
■為晶圓硅片關鍵生產工藝提供的無接觸測量
技術指標
■測試尺寸：50mm-300mm.
■厚度測試范圍：1000 um，可擴展到1700 um
■厚度測試：＋/-0.25um
■厚度重復性：0.050um
■TTV 測試：＋/-0.05um
■TTV重復性：0.050um
■電阻率測試范圍：0.1ohm.cm——50 ohm.cm
■電阻率測試：＋/-2%
■電阻率測量重復：＋/-1%
■晶圓硅片導電型號：P 或 N型
■材料：Si，GaAs，InP，Ge等幾乎半導體材料
■可用在：切片后、磨片前、后，蝕刻，拋光以及出廠、入廠質量檢測等
■平面/缺口：的半導體標準平面或缺口
■硅片安裝：裸片，藍寶石/石英基底，黏膠帶
■連續5點測量
