BXR-616能量色散X射線熒光光譜儀
●美國原裝高靈敏電制冷Si（Pin）探測器
●電制冷Si（Pin）探測器晶體面積15mm2分辨率＜155eV
●全數字脈沖處理器技術
●優異的峰背比、高的痕量分析靈敏度
●50KV，50瓦，自護X-射線管
●多濾光片智能識別技術
●鍍層和薄膜測量技術
●，操作簡便的XRF軟件
主要特點
●分析元素范圍 Cl－Ｕ
●分析元素的濃度范圍 ppm—100％
●整機穩定性連續8小時測RSD＜0.25％
●RoHS／WEEE檢測時間100-120秒
●樣品類型：固體，液體，粉末，鍍層及其他
應用領域：
●應對RoHS＆WEEE指令分析
●各種金屬膜厚度測量、工業鍍層厚度測量
●鹵素指令Cl元素分析
●礦石、原材料成份分析等
●磁性磁性介質和半導體，各種合金、貴金屬成份分析
●美國原裝高靈敏電制冷Si（Pin）探測器
●電制冷Si（Pin）探測器晶體面積15mm2分辨率＜155eV
●全數字脈沖處理器技術
●優異的峰背比、高的痕量分析靈敏度
●50KV，50瓦，自護X-射線管
●多濾光片智能識別技術
●鍍層和薄膜測量技術
●，操作簡便的XRF軟件
主要特點
●分析元素范圍 Cl－Ｕ
●分析元素的濃度范圍 ppm—100％
●整機穩定性連續8小時測RSD＜0.25％
●RoHS／WEEE檢測時間100-120秒
●樣品類型：固體，液體，粉末，鍍層及其他
應用領域：
●應對RoHS＆WEEE指令分析
●各種金屬膜厚度測量、工業鍍層厚度測量
●鹵素指令Cl元素分析
●礦石、原材料成份分析等
●磁性磁性介質和半導體，各種合金、貴金屬成份分析
