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XRD
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納米粉末粒度分布的測定 X射線小角散射法 GB/T 13221-2004
X射線小角散射（SAXS）系發生于原光束附近至幾度范圍內的相干散射現象，物質內部尺度在1納米至數百納米范圍內的電子密度的起伏是產生這種散射效應的原因。利用SAXS技術可以表征物質的長周期、準周期結構和測定納米粉末的粒度分布，廣泛應用于納米尺度的各種金屬、無機非金屬、聚合物粉末以及生物大分子、膠體溶液、磁性液體等顆粒尺寸分布的測定；也可對各種材料中的納米級孔洞、偏聚區、析出相等的尺寸進行分析研究。其粒度分析結果在統計上有充分的代表性，其制樣方法相對比較簡單，對顆粒分散的要求也不像其他方法那樣嚴格。
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