儀器特點：
1．儀器外觀選用的流線型設計，時尚雅致。
2．同時分析元素周期表中由硫(S)到鈾（U）。
3．可以分析多5層鍍層，可分析元素多達24種。
4．無需復雜的樣品預處理過程，測試。
5．檢出限可2ppm。
6．分析測量動態范圍寬，可從0.005μm到60μm 。
7．采用美國原裝、國際的探測器，能量分辨率高。
8．采用美國原裝、國際的AMP，處理速度快，高，穩定。
9．X光管采用正高壓激發，激發與測試條件采用計算機軟件數碼控制與顯示。
10．采用彩色攝像頭，準確觀察拍攝樣品。
11．采用電動無控制樣品平臺，可以進行X-Y-Z的移動，準確方便。
12．采用雙激光對焦系統，準確定位測量位置。
13．高度傳感器。
14．保護傳感器，保護探測器。
15．度高，穩定性好，故障率低。
16．輻射系統：隱蔽式設計、軟件、硬件三重射線護系統多層屏蔽保護，輻射性。
17．WINDOWS XP 中文應用軟件，的分析方法，強大的功能，操作簡單，使用方便。
應用:
塑料制品工業鍍層、電子材料鍍層（接插件、半導體、線路板、電容器等）、鋼鐵材料鍍層（鐵、鑄鐵、不銹鋼、低合金、表面處理鋼板等）、有色金屬材料鍍層（銅合金、鋁合金、鉛合金、鋅合金、鎂合金、鈦合金、貴金屬等）、其它各種鍍層厚度的測量及成分分析。
1.銅上鍍金單鍍層厚度測量鐵、銅等材料上鍍金的金厚度測量是工業中常見的，利用Thick-900系列X熒光鍍層測厚儀可以獲得很的結果。
熒光厚度與已知厚度樣品結果對比：
鍍層標準厚度（μm） | 0.12 | 0.45 | 1.35 | 2.55 | 4.12 | 5.23 | 7.65 |
鍍層熒光厚度（μm） | 0.11 | 0.48 | 1.37 | 2.47 | 4.06 | 5.35 | 7.58 |
